Johdatus yleismittarin tunnistusmenetelmiin
1. On-circuit DC resistanssin tunnistusmenetelmä
Tämä on menetelmä, jossa käytetään yleismittarin ohmilohkoa mittaamaan suoraan IC:n ja piirilevyn oheiskomponenttien jokaisen nastan myötä- ja taaksepäin DC-resistanssiarvot ja verrataan niitä normaaleihin tietoihin vian etsimiseksi ja määrittämiseksi. Huomioi seuraavat kolme seikkaa mittaaessasi:
(1) Irrota virtalähde ennen mittausta, jotta mittari ja komponentit eivät vaurioidu testauksen aikana.
(2) Yleismittarin sähköesteen sisäinen jännite ei saa olla suurempi kuin 6 V. Mittausalueella on parasta käyttää aluetta R×100 tai R×1k.
(3) Kun mittaat IC-nastaparametreja, kiinnitä huomiota mittausolosuhteisiin, kuten testattavaan malliin, potentiometrin liukuvarren asentoon suhteessa IC:hen jne., ja huomioi myös oheispiirin komponenttien laatu. .
2. DC-käyttöjännitteen mittausmenetelmä
Tämä on menetelmä DC-virtalähteen jännitteen ja oheislaitteiden käyttöjännitteen mittaamiseksi yleismittarin tasajännitelohkolla, kun virta on päällä; ilmaistaan IC:n jokaisen nastan tasajännitearvo maahan ja vertaamalla sitä normaaliarvoon, mikä tiivistää vikaalueen. Etsi vaurioitunut komponentti. Kiinnitä huomiota seuraaviin kahdeksaan kohtaan mittaaessasi:
(1) Yleismittarin sisäisen resistanssin on oltava riittävän suuri, vähintään 10 kertaa suurempi kuin mitattavan piirin vastus, jotta vältytään suurilta mittausvirheiltä.
2) Yleensä käännä jokainen potentiometri keskiasentoon. Jos kyseessä on televisio, signaalilähteen tulee käyttää tavallista väripalkkisignaaligeneraattoria.
(3) Mittausjohdoille tai antureille on suoritettava liukastumisenestotoimenpiteitä. Mikä tahansa hetkellinen oikosulku voi helposti vahingoittaa IC:tä. Testikynän liukumisen estämiseksi voidaan käyttää seuraavaa menetelmää: ota pala polkupyörän venttiilin sydämestä ja aseta se testikynän kärkeen ja pidennä testikynän kärkeä noin 0,5 mm. Tämä ei ainoastaan saa testikynän kärkeä hyvin kosketukseen testattavan kohdan kanssa, vaan se myös estää tehokkaasti liukastumisen. , oikosulkua ei tapahdu, vaikka se osuisi viereisiin pisteisiin.
(4) Kun tietyn nastan mitattu jännite ei vastaa normaaliarvoa, IC:n laatu tulee arvioida analysoimalla, onko nastan jännitteellä mitään merkittävää vaikutusta IC:n normaaliin toimintaan ja vastaaviin jännitteen muutoksiin. muista tapeista.
(5) Oheiskomponentit vaikuttavat IC-nastan jännitteeseen. Kun oheiskomponentit vuotavat, oikosulku, katkeaa tai muuttaa arvoa tai oheispiiri kytketään muuttuvavastuksen omaavaan potentiometriin, nastan jännite muuttuu johtuen potentiometrin liukuvarren eri asennoista.
(6) Jos IC:n jokaisen nastan jännite on normaali, IC:tä pidetään yleensä normaalina; jos IC:n joidenkin nastojen jännite on epänormaali, kannattaa aloittaa kohdasta, joka poikkeaa eniten normaaliarvosta ja tarkistaa, ovatko oheiskomponentit viallisia. Jos vikaa ei ole, IC on todennäköisesti vaurioitunut. .
(7) Dynaamisissa vastaanottolaitteissa, kuten televisioissa, IC:n jokaisen nastan jännitteet ovat erilaiset riippumatta siitä, onko signaalia vai ei. Jos havaitaan, että nastajännitteen ei pitäisi muuttua, vaan muuttuu suuresti, eikä nastajännite, jonka pitäisi muuttua signaalin koon ja säädettävän komponentin sijainnin mukaan, ei muutu, voidaan todeta, että IC on vaurioitunut.
(8) Laitteissa, joissa on useita toimintatiloja, kuten videonauhurit, IC:n jokaisen nastan jännitteet ovat myös erilaiset eri toimintatiloissa.
3. AC käyttöjännitteen mittausmenetelmä
Ymmärtääksesi IC:n vaihtovirtasignaalin muutokset, voit käyttää dB-liittimellä varustettua yleismittaria mittaamaan likimääräisesti IC:n AC-käyttöjännitettä. Kun testaat, aseta yleismittari AC-jänniteasetukseen ja aseta positiivinen mittausjohto dB-liittimeen; Yleismittarissa, jossa ei ole dB-liitintä, {{0}},1–0,5 μF DC-estokondensaattori on kytkettävä sarjaan positiiviseen testijohtoon. Tämä menetelmä soveltuu IC:ille, joilla on suhteellisen matalat toimintataajuudet, kuten TV-videon vahvistusasteet ja kenttäpyyhkäisypiirit. Koska näillä piireillä on erilaiset luonnolliset taajuudet ja erilaiset aaltomuodot, mitatut tiedot ovat likimääräisiä ja niitä voidaan käyttää vain viitteenä.
4. kokonaisvirran mittausmenetelmä
Tämä menetelmä on menetelmä IC:n laadun arvioimiseksi ilmaisemalla IC-virtalähdelinjan kokonaisvirta. Koska suurin osa IC:n sisäisistä osista on kytketty suoraan, kun IC vaurioituu (kuten tietyn PN-liitoksen rikkoutuminen tai avoin piiri), se aiheuttaa seuraavan vaiheen kyllästymisen ja katkaisun, jolloin kokonaisvirta muuttuu. . Siksi IC:n laatu voidaan arvioida mittaamalla kokonaisvirta. Voit myös mitata jännitehäviön vastuksen yli tehopolulla ja käyttää Ohmin lakia laskeaksesi kokonaisvirran arvon.
