Kuinka kalvopinnoituksen online-paksuusmittarit toimivat
JSP Thickness Gauge for Thin Film Coatings on online-paksuusmittari, joka käyttää optisen pinnoitusteknologian periaatetta materiaalien paksuuden havaitsemiseen. Ohutkalvon online-paksuusmittarin spektrimittausta ja ohjausta käytetään yleisesti tuotantolinjoissa materiaalin paksuuden erätestaukseen, paksuuden mittausprosessissa mitataan reaaliajassa tulosten näyttämiseksi teknikolle tai ohjausjärjestelmälle, jotta helpotetaan teknikko tai ohjausjärjestelmä voi reagoida epänormaaliin tietoihin ajoissa, on tärkeä osa automatisoitua tuotantoa. Nykyään tieteen ja tekniikan nopean kehityksen ansiosta kalvopinnoitteen online-paksuusmittarista on tullut välttämätön työkalu materiaalipaksuuden erätestaukseen tuotantolinjalla.
Nykyään tieteen ja tekniikan nopean kehityksen vuoksi konenäköala on ollut nopeampi kehitys ja sovellus, kalvon paksuuden mittauksen alalla kalvopinnoitteen online-paksuusmittari on myös kehittynyt nopeammin, nyt jatkuvan kehityksen myötä tiede ja tekniikka, paksuusmittarin tyyppi sekä instrumentin tekniset ominaisuudet ovat myös saaneet paljon parannuksia, paksuusmittari paksuusmittarin käyttöprosessissa yhdistettynä erityyppisiin paksuusmittareihin, paljon erilaisia, ja nyt ottaa wuxi jingpu Kalvon pinnoitteen paksuusmittarin mittaus ja ohjaus, hienospektrimittaus ja pinnoitteen (kalvon paksuus) online-paksuusmittarin ohjaus, nano-optisten häiriöiden käyttö samaan aikaan, 20 kerrosta ei käytä pinnoitetta, kalvoa samanaikaiseen mittaukseen, kun taas tarkkuus on jopa 1 nm, täydellinen ratkaisu perinteiseen sädeluokan online-paksuusmittarin säteilyyn, offset-jakso, alhainen tunnistustarkkuus, ei pysty havaitsemaan paksuuden puutteita pinnoitteesta. Tarkkuusspektrimittaus ja pinnoitteen paksuuden valvonta online-paksuusmittarin korkean tarkkuuden havaitseminen, samaan aikaan voi reaaliaikaisen online-automaattisen kalibroinnin, tehokkaasti taata online-paksuusmittarin havaitsemisen tarkkuuden.
Kalvopinnoitteen online-paksuusmittarin tunnistusperiaate:
Kun tietty valon aallonpituus eri materiaalien läpi (eri paksuus, tiheys, koostumus), sen jälkeen, kun pinta ja sisäinen heijastus monta kertaa muodostumisen jälkeen spektrin hapsut ovat täysin erilaisia, järjestelmä analysoimalla vastaanotetut spektrihäiriöt reunat heijastuneen valon ominaisuudet, ja järjestelmän kirjasto spektrikäyrät vastaamaan ja vertailla, kun taas simulointi ja sovitus ominaiskäyrät, ja sitten jokainen eri koostumus paksuus pinnoite On-line mittaus.
(1) Tuleva valo heijastuu useita kertoja kalvon ylä- ja alapinnalle.
(2) Heijastuneen valon intensiteetti liittyy kalvon taitekertoimeen, substraatin taitekertoimeen, kalvon paksuuteen ja aallonpituuteen.
(3) Jos taitekerroin tunnetaan, kalvon paksuus lasketaan mitatun heijastuneen valon intensiteetin ja aallonpituuden funktiona.
