+86-18822802390

Viisi yleistä mikroskoopin havaintomenetelmää

Mar 18, 2023

Viisi yleistä mikroskoopin havaintomenetelmää

 

1. Kirkkaan kentän menetelmä
Menetelmä suoraan näytteestä heijastuneen valon tarkkailemiseksi. Valaisimen valo osuu näytteeseen pystysuoraan kohdistetun objektiivin läpi, ja näytteestä suoraan heijastunut valo havaitaan objektiivin läpi.


2. Tumman kentän menetelmä
Noudata näytteen kuivausmenetelmiä, joissa käytetään taipunutta valoa. Valaistusvalo osuu vinosti näytteeseen objektiivilinssin kehän läpi, ja näytteestä tulevaa kuivaa valoa tarkkaillaan samalla kun tarkkaillaan taittuneen valon.
Ihanteellinen pienten naarmujen tai halkeamien havaitsemiseen näytteistä ja näytteiden, kuten kiekkojen, peilimäisten pintojen tarkastamiseen.


3. Polarisoidun valon menetelmä
Tämä on mikroskooppinen havainnointitekniikka, joka käyttää polarisoitua valoa, joka muodostuu kahdesta värisuodattimesta (tunnistuspolarisaattori ja polarisaattori). Nämä polarisaatioakselit ovat aina kohtisuorassa toisiinsa nähden. Jotkut näytteet osoittavat terävän kontrastin kahden suodattimen välillä. Tai ilmaise väriä kahtaistaittavuusominaisuuksien ja suuntauksen perusteella (eli sinkkirakenteiden kiillotetut näytteet). Kun analysaattori asetetaan havaintovaloradalle okulaarin eteen, polarisaattori on valoradalla pystysuoran valaisimen edessä.
Se soveltuu metallografisen rakenteen (ts. pallografiitin kasvutavan), mineraalien ja nestekide (LCD) sekä puolijohdemateriaalien tarkkailuun.


4. Differentiaalihäiriökontrastimenetelmä
Tämä on mikroskooppinen havaintotekniikka, joka muuttaa kontrastikorkeuden stereoskooppiseksi tai kolmiulotteiseksi kuvaksi käyttämällä kirkaskenttämenetelmää, jota ei välttämättä havaita kirkkaan kentän menetelmällä. Valaistusvalo vaihdetaan differentiaalisen interferenssin kontrastiprismasta kahdeksi taittuneeksi valoksi. Kahden taipuneen valon aiheuttama ero näytteen korkeudessa luo pienen eron valon kulkureitissä, ja valoradan erosta tulee kontrastiprisman ja differentiaalista interferometriaa käyttävän analysaattorin välinen kontrasti.
Herkkiä näytteitä käytetään uudelleen erittäin vaihtelevien kromaattisten poikkeamien parantamiseksi.
Se soveltuu testaamaan näytteitä, joissa on erittäin tarkkoja korkeuseroja, mukaan lukien metallografiset rakenteet, mineraalit, magneettipäät, kiintolevypinnat ja kiekot jalostetut pinnat.


5. Fluoresenssimenetelmä
Tätä tekniikkaa käytetään näytteille, jotka fluoresoivat.
Se soveltuu kiekkojen kontaminaatioiden, valoherkän hartsin jäännösten ja halkeamien havaitsemiseen fluoresenssimenetelmällä.

 

4 Electronic Magnifier

 

Lähetä kysely