Metallurgisten mikroskooppien sovellukset monilla teollisuudenaloilla
Metallografinen mikroskooppi johdettiin ensin metallografiasta, sen päätarkoituksena on tarkkailla ammattiinstrumenttien metallografista organisaatiota, ja sitä käytetään erityisesti läpinäkymättömien esineiden, kuten metallien ja mineraalien mikroskoopin, metallografisen organisaation tarkkailuun. Näitä läpinäkymättömiä esineitä ei voida havaita tavallisessa läpäisevässä valomikroskoopissa, joten tärkein ero metallografisen ja tavallisen mikroskoopin välillä on, että edellinen heijastuneen valon ja jälkimmäisen läpäisevän valon valaistuksen kanssa.
Metallografisella mikroskoopilla on hyvä vakaus, selkeä kuva, korkea resoluutio, suuri ja tasainen näkökenttä. Se ei voi vain tehdä mikroskooppista tarkkailua okulaarissa, vaan myös tarkkailla reaaliaikaisia dynaamisia kuvia tietokoneen (digitaalikameran) näytöllä ja muokata, tallentaa ja tulostaa vaadittuja kuvia, joita käytetään pääasiassa laitteiston aloilla, viipalointi, IC-komponentit, LCD / LED ja niin edelleen.
Koska metallurgiseen mikroskooppiin on olemassa viisi erilaista linssiä: EPI-kirkaskenttäfluoresenssi; BD kirkas kenttä ja tumma kenttä; SLWD erittäin pitkä työmatka; ELWD parannettu työetäisyys; korjausrenkaalla. Laiteteollisuudessa on joitain laitteita, heijastus on vakavampi, voit valita BD-kirkkaan ja pimeän kentän objektiivin havainnointiin. Toinen esimerkki, LCD-teollisuudessa, johtavien hiukkasten havainnointi ja mittaus, metallurginen mikroskooppi voidaan varustaa myös DIC:llä, mikä voi tehdä kohteesta näkemään kolmiulotteisemman. Koska se on polarisoidulla valolla, kahdella suodatinsarjalla, polarisoidun valomikroskoopin havainnointitekniikan muodostuminen kahtaistaittavien ominaisuuksien mukaan, suunnanmuutos valopolun suunnassa, tietysti polarisoitunut vain DIC:n avulla, erikseen sillä on vähän merkitystä. Metallografista mikroskooppia käytetään IC-komponenttien, metallografisten osien ja muiden mikrokokoisten mittausten ja analyysien suorittamiseen. Voi käyttää älykkäitä ohjelmistoja Iview-DIMS mittaus, korkea, vähentää tehokkaasti inhimillisiä virheitä mittauksessa. Helppo oppia ja käyttää, voi helposti saavuttaa pisteen, linjan, kaaren, puoliloimen, suoran loimen, kulman ja muut vastaavat mitat ** mittauksen ja analyysin, helppo ottaa mittauskuvia ja muokata erilaisia testiraportteja.
