Johdanto yleismittarin testausmenetelmään
1. Piirin sisäinen tasavirtavastuksen havaitsemismenetelmä
Tämä on eräänlainen monimittarin OHM -pysäkki, suoraan piirilevyllä, jotta voidaan mitata positiivisen ja negatiivisen tasavirtavastusarvon IC -nastat ja perifeeriset komponentit ja verrattuna normaaliin tietoon vikamenetelmän löytämiseksi ja määrittämiseksi. Mittausta kiinnitä huomiota seuraaviin kolmeen pisteeseen:
(1) Irrota virtalähde ennen mittausta mittarin ja komponenttien vahingoittamisen välttämiseksi testauksen aikana.
(2) Yleimetrivastuksen lohkon sisäisen jännitteen ei tulisi olla suurempi kuin 6 V, ja alueen tulisi mieluiten olla R × 100 tai R × 1K -lohko.
(3) Kun mitataan IC -PIN -parametreja, kiinnitä huomiota mittausolosuhteisiin, kuten mitattuun malliin, IC: hen jne. Liukuvan potentiometrin liukuvaan käsivarren sijaintiin, mutta harkitse myös oheispiirikomponentteja.
2. DC -käyttöjännitteen mittausmenetelmä
Tämä on eräänlainen tehon tapauksessa, ja monimittarin tasavirtajännitekohko DC -syöttöjännitteellä, työjännitteen oheiskomponentit; IC -tapien havaitseminen maadoitusjännitteen arvoon ja verrattuna normaaliin arvoon ja puristi sitten ongelman laajuuden, jotta voidaan selvittää vaurioituneet komponentit. Mittauksen tulisi kiinnittää huomiota seuraaviin kahdeksaan pisteeseen:
(1) Yleimetrillä tulisi olla riittävän suuri sisäinen vastus, vähintään 10 kertaa suurempi kuin testauksen alla olevan piirin vastus, jotta ei aiheuta suuria mittausvirheitä.
(2) Käännä jokainen potentiometri yleensä keskiasentoon, ja jos se on televisio, signaalin lähteen tulisi olla vakioväripalkin signaaligeneraattori.
(3) Meterikynän tai anturin tulee toteuttaa liukumisen vastaiset toimenpiteet. Kaikkien hetkellisten oikosulkujen takia IC: tä on helppo vahingoittaa. Voidaan pitää seuraavasti estääksesi mittarikynän liukumisen: ota osa polkupyöräventtiilin ytimestä, joka on asetettu mittarikynän kärjelle ja pitkään mittarikynän kärjestä 0. 5 mm, mikä voi tehdä mittarikynän kärjen hyvästä kosketuksista, joita testataan, mutta myös tehokas estämään liukastumista, edes jos se koskettaa naapurimaiden pisteitä.
(4) Kun mitattu PIN -jännite ei vastaa normaalia arvoa, PIN -jännitteen tulisi perustua IC: n normaaliin toimintaan ei ole merkittävää vaikutusta toiseen PIN -jännitteeseen ja vastaavaan analyysin muutokseen hyvän ja huonon IC: n määrittämiseksi.
(5) Perifeeriset komponentit vaikuttavat IC -nastajännitteeseen. Kun oheiskomponentit vuotaavat, oikosulku, avoin piiri tai vaihtavat arvoa tai perifeerinen piiri on kytketty potentiometriin, jolla on muuttuva vastus, silloin potentiometrin liukuvarsi on eri asennossa, tehdään PIN -jännitteen muutoksen.
(6) Jos IC -nastajännite on normaali, IC: tä pidetään yleensä normaalina; Jos PIN -jännitteen IC -osa on epänormaali, sen tulisi alkaa suurimmasta poikkeamasta normaalista arvosta, tarkista, että reunakomponenteilla ei ole vikaa, jos vikaa ei ole, IC todennäköisesti vaurioituu.
(7) Dynaamisten vastaanottolaitteiden, kuten televisioiden, signaalin läsnä ollessa tai puuttuessa IC -nastajännite on erilainen. Jos huomaat, että PIN -jännitteen ei tulisi muuttua suurten muutosten sijasta, signaalin koko ja säädettävät komponentit, joilla on erilaiset paikat ja muutokset muutosten sijasta, voit määrittää IC -vaurion.
(8) Erilaisissa käyttötiloissa, kuten laitteen käyttötiloissa, erilaisissa käyttötiloissa IC -nastajännite on myös erilainen.
3. AC: n käyttöjännitteen mittausmenetelmä
IC AC -signaalin muutosten tarttumiseksi voit käyttää monimittaria DB -liitännällä lähentääksesi IC AC: n käyttöjännitteen mittausta. AC -jännitteen lohkoon asetetun monimittarin havaitseminen, DB -liitäntään asetettu positiivinen kynä; Yleimetrille ilman DB -liitäntä, sarjan positiivisen kynän tarve {{0}}. 1 ~ 0,5 μF eristämiskondensaattori. Menetelmä koskee ICS: ää, jolla on suhteellisen pieni toimintataajuus, kuten television videovahvistusvaihe, kenttäskannauspiirit ja niin edelleen. Näiden piirien luontaisen taajuuden vuoksi on erilaisia, erilaisia aaltomuotoja, joten mitatut tiedot ovat likimääräisiä ja niitä voidaan käyttää vain vertailuun.
4. Kokonaisvirran mittausmenetelmä
Tämä menetelmä on havaita IC -virtalähteen kokonaisvirta linjalle, IC: n määrittäminen on hyvä tai huono menetelmä. Koska suurin osa IC: n sisäisestä suorasta kytkemisestä, IC-vauriot (kuten PN-risteyksen hajoaminen tai avoin piiri) aiheuttavat takahuoneen kylläisyyden ja katkaisun siten, että kokonaisvirta muuttuu. Joten mittaamalla kokonaisvirtamenetelmä voi määrittää IC: n hyvän tai huonon. Voidaan myös käyttää vastuksen jännitteen pudotusta virransyöttöpolulla käyttämällä Ohmin lakia kokonaisvirran arvon laskemiseksi.
