Miksi laserkonfokaalimikroskopian kuvanlaatu on parempi?
Laserkonfokaalimikroskopian periaate on, että LED-valonlähteen lähettämä valonsäde kulkee monireikäisen levyn ja objektiivilinssin läpi ja keskittyy näytteen pintaan. Tämän jälkeen säde heijastuu takaisin mittausjärjestelmään näytteen pinnan läpi. Kun se kulkee uudelleen MPD:n reikien läpi, heijastunut valo säilyttää vain fokusoidut valopisteet. Lopuksi valonsäde heijastuu jakajalla ja kuvataan kameraan.
Miksi laserkonfokaalimikroskopian kuvanlaatu on parempi?
1. Laserkonfokaalimikroskooppi käyttää laserskannaustekniikkaa. Verrattuna perinteisten mikroskooppien laajaspektriseen valonlähteeseen, laserskannaustekniikka voi paikantaa tarkasti näytteen tietyt alueet ja keskittyä niihin, mikä parantaa kuvantamisen resoluutiota ja tarkkuutta. Samaan aikaan laserskannaustekniikka voi eliminoida sironnan ja taustasignaalit näytteestä, mikä parantaa kuvantamisen kontrastia. Samaan aikaan laserin yksivärisyys tekee kuvantamisesta selkeämpää.
2. Laserkonfokaalimikroskopialla on suurempi optinen aukko (mikroskoopin kyky vastaanottaa näytteen lähettämää valoa) ja korkea numeerinen aukkoobjektiivi (linssin suurennus), mikä tekee kuvantamisesta selkeämpää ja yksityiskohtaisempaa.
3. Laserkonfokaalimikroskooppi käyttää tunnistuselementtinä erittäin herkkää valomonistinputkea, joka voi olla erittäin herkkä heikoille fluoresenssisignaaleille. Se voi myös poistaa taustamelun vähentämällä viritysaluetta ja käyttämällä optista viipalointia** Erittäin herkillä valodioditunnistimilla varustettu laserkonfokaalinen mikroskooppi voi havaita valosignaalit nopeasti ja tarkasti ja muuntaa ne sähköisiksi signaaleiksi.
Toisin kuin perinteinen optinen havainnointi, valodiodiilmaisimet voivat havaita yksittäisiä fotoneja, mikä tekee kuvantamisesta herkempää ja tarkempaa. Tämä erittäin herkkä ilmaisin voi myös saada selkeitä kuvia heikossa valaistuksessa.
VT6000-laserkonfokaalinen mikroskooppi perustuu neulanreikäpistevalonlähteen konjugaattikonfokaaliperiaatteeseen, jonka pituussuuntainen resoluutio on nanometritasolla. Yhdessä nopean skannausmoduulin kanssa ammattimaisessa analyysiohjelmistossa on monialue- ja automaattiset mittaustoiminnot, joilla voidaan saavuttaa nopea ja automatisoitu mittaus. Se tarjoaa myös joukon ääriviivakokoparametreja, kuten korkeus, leveys ja kulma, jotka kuvaavat pinnan laatua.
