Mitä tiedät metallografisessa analyysissä käytetystä mikroskoopin terminologiasta?
Numeerinen aukko
Numeerinen aukko on tärkeimmät tekniset parametrit objektiivin linssin ja kondensaattorilinssin metallurgisen mikroskoopin, numeerinen aukko lyhenne NA, on arvioida kaksi (erityisesti objektiivi) suorituskykyä tärkeitä merkkejä korkeasta ja matalasta. Sen arvon koko, joka on kaiverrettu objektiivin linssiin ja kondensaattorilinssin kuoreen.
Numeerinen aukko (NA) on objektiivin linssi ennen linssiä ja tutkittavaa kohdetta väliaineen taitekertoimen (n) ja aukkokulman (u) välillä tuotteen sinin puolessa. Ilmaistaan kaavalla seuraavasti: NA=nsinu/2
Resoluutio
Metallurgisen mikroskoopin resoluutio on mikroskoopin resoluutio voidaan selvästi erottaa kahden kohdepisteen välisestä * pienestä etäisyydestä, joka tunnetaan myös erottelunopeudena. Sen laskentakaava on σ=λ / NA
missä σ on * pieni resoluutioetäisyys; λ on valon aallonpituus; NA on objektiivin numeerinen aukko. Objektiivin resoluutio määräytyy objektiivin NA-arvon ja valaistuksen valonlähteen aallonpituuden mukaan, mitä suurempi NA-arvo, mitä lyhyempi valaistusvalon aallonpituus, mitä pienempi σ-arvo, sitä korkeampi resoluutio .
Suurennus ja tehokas suurennus
Objektiivilinssin ja okulaarin kahden suurennuksen vuoksi mikroskoopin kokonaissuurennuksen Γ tulisi olla objektiivin linssin suurennuksen ja okulaarin suurennuksen Γ1 tulos: Γ=Γ1
On selvää, että mikroskoopilla voi olla paljon suurempi suurennus kuin luuppissa, ja mikroskoopin suurennusta voidaan helposti muuttaa vaihtamalla objektiivia ja okulaaria eri suurennoksilla.
Tarkennuksen syvyys
Tarkennuksen syvyys on lyhenne sanoista Tarkennuksen syvyys, eli mikroskooppia käytettäessä tarkennus on tiettyyn kohteeseen, ei vain pisteen tasossa olevat pisteet näkyvät selvästi, vaan myös tietyn paksuuden sisällä ylä- ja alapuolelta. tason, se näkyy myös selvästi, ja tämän selkeän osan paksuus on tarkennuksen syvyys. Tämä on erityisen tärkeää videomikroskopiassa.
Näkökentän halkaisija
Mikroskoopilla tarkasteltaessa näkyvää kirkasta pyöreää aluetta kutsutaan näkökentällä, ja sen koon määrää okulaarin kenttäkalvo.
Näkökentän halkaisija, joka tunnetaan myös nimellä näkökentän leveys, on tutkittavan kohteen todellinen laajuus, joka voidaan sijoittaa mikroskoopin alla näkyvään pyöreään näkökenttään. Mitä suurempi näkökentän halkaisija on, sitä helpompi se on havaita.
Kattavuuden ero
Mikroskoopin optiseen järjestelmään kuuluu myös kansilasit. Koska peitinlasin paksuutta ei ole standardoitu, valon polku peittolasista ilmaan taittumisen jälkeen muuttuu, mikä johtaa vaihe-eroon, joka tunnetaan peittoerona. Tämä on peittoero, joka vaikuttaa metallurgisen mikroskoopin laatuun.
Työetäisyys
Työetäisyyttä kutsutaan myös kohdeetäisyydeksi, eli objektiivin edessä olevan linssin pinnan ja tutkittavan kohteen välinen etäisyys. Peilitarkastuksessa tutkittavan kohteen tulee olla objektiivin linssissä 2-2 kertaa polttovälin verran. Siksi polttovälillä on kaksi käsitettä, joita yleensä käytetään sanomaan, että painopiste on itse asiassa metallurgisen mikroskoopin työetäisyyden säätö.
