Ero resoluution ja digitaalisen yleismittarin resoluution välillä
Yleismittaria voidaan kutsua yleismittariksi. Tietenkin digitaalista yleismittaria voidaan kutsua myös digitaaliseksi yleismittariksi. Sen englanninkielinen nimi on DMM, ja se on myös tällä hetkellä laajalti käytetty mittauslaite. Digitaalinen yleismittari voi näyttää mitatun arvon suoraan digitaalisessa muodossa. Se ei voi vain mitata erilaisia virtoja ja jännitteitä, vaan myös mitata kapasitanssia, resistanssia, tunnistaa erilaisia diodeja ja testata niiden laatua jne. Seuraavaksi esittelemme pääasiassa yleismittarin perustoiminnot - eron resoluution ja resoluution välillä. Opitaan tietoja editorin kanssa~
Resoluutio on digitaalisen yleismittarin kyky erottaa pieninkin muutos mitatussa arvossa. Se heijastaa mittarin herkkyyttä. Eri alueilla mittarin resoluutio on erilainen. Mittarilla on korkein resoluutio alimmalla alueella, ja suurin resoluutio määritellään digitaalisen yleismittarin resoluutioindeksiksi.
Joskus korkeinta resoluutiota kutsutaan myös instrumentin herkkyydeksi. Digitaalisten instrumenttien resoluutio kasvaa näytön numeroiden kasvaessa.
Resoluutioindeksi voidaan ilmaista myös resoluutiolla. Resoluutiolla tarkoitetaan pienimmän ja suurimman luvun prosenttiosuutta, jonka laite voi näyttää. Esimerkki: DT{{0}}/2-digitaalinen yleismittari, pienin näytettävä luku on 1 ja suurin luku 1999, joten resoluutio on 1/1999≈ 0,05 prosenttia.
On syytä huomauttaa, että resoluutiolla ja resoluutiolla on ero;
Esimerkiksi 31/2-numeroisten ja 33/4-numeroisten instrumenttien resoluutio on sama, molemmat ovat 100 μV, mutta näiden kolmen resoluutiot ovat erilaiset.
Resoluutio ja tarkkuus kuuluvat kahteen eri käsitteeseen. Resoluutio edustaa laitteen kykyä "tunnistaa" pieniä signaaleja, eli "herkkyyttä", kun taas tarkkuus heijastaa mittauksen "tarkkuutta" eli mittaustulosta Yhteysastetta todellisen arvon kanssa. Nämä kaksi eivät välttämättä liity toisiinsa, eikä niitä voida sekoittaa keskenään. Itse asiassa resoluutio liittyy vain mittarin näytön numeroiden määrään, kun taas tarkkuus liittyy mittarin sisäisen A/D-muuntimen ja toiminnallisen muuntimen kattavaan virheeseen ja kvantisointivirheeseen. Käytännön sovelluksissa mitä suurempi tarkkuus ja herkkyys, sitä parempi, mutta se riippuu myös tietystä mitattavasta kohteesta, muuten se on myös hukkaa.
