Kondensaattorin vuotovirran testaus yleismittarin jännitealueella
Digitaalisen yleismittarin tasajännitealuetta ei käytetä vain jännitteen mittaamiseen, vaan myös kondensaattoreiden havaitsemiseen. Kapasitanssin mittaaminen jännitealueella on itse asiassa epäsuora mittausmenetelmä, jolla voidaan mitata pienikapasiteettisia kondensaattoreita välillä 220pF - 1 μF ja mitata tarkasti kondensaattorin vuotovirta.
1. Mittausmenetelmät ja -periaatteet. Mittauspiiri on esitetty kuvassa 1, jossa E on ulkoinen 1,5 V:n kuivaparisto. Aseta digitaalinen yleismittari 2V:n tasajännitteeseen, kytke punainen anturi testatun kondensaattorin Cx yhteen elektrodiin ja kytke musta anturi akun negatiiviseen napaan. 2V vaihteen tuloresistanssi Ri on 10M Ω. Koska jännite Rin yli on instrumentin tulojännite VIN, Ri toimii itse asiassa myös näytteenottovastuksena. Jos mitatun kondensaattorin vuotovirta on ID ja laitteen näyttämä vakaa arvo on VC (yksikkö: V),
Tässä havainnollistava esimerkki:
Esimerkki 1: Testattu kondensaattori on kiinteä kondensaattori, jonka kapasitanssi on 1 μ F/160V. Käytä digitaalista DT930FD-yleismittaria 2V/DC-alueella (=10M Ω) kytkeäksesi piirin kuvan 1 mukaisesti. Aluksi laite näytti 1,521 V:tä, jonka jälkeen näytetty arvo pieneni vähitellen. Noin 1 minuutin kuluttua näytetty arvo vakiintui arvoon 0,0027 V. Tämän perusteella laskettiin testatun kondensaattorin vuotovirta: testatun kondensaattorin vuotovirta oli vain 0,3 nA, mikä osoittaa hyvää laatua.
Esimerkki 2: Testattu kondensaattori on 0,022 μ F/63V polyesterikondensaattori, ja mittausmenetelmä on sama kuin yllä. Kondensaattorin pienestä kapasiteetista johtuen VIN (t) pienenee nopeasti mittauksen aikana. Noin 4 sekunnin kuluttua näytetty arvo laskee arvoon 0,0019 V. Laskettu vuotovirta on:
Vuotovirta on hyvin pieni, mikä osoittaa hyvää laatua.
2. Varotoimet
(1) Ennen mittaamista kondensaattorin kaksi nastaa tulee oikosulkea ja purkaa, muuten lukuprosessi saattaa muuttua.
ei huomioida.
(2) Älä kosketa kondensaattorielektrodia molemmin käsin mittauksen aikana, jotta instrumentti ei hyppää.
(3) Mittausprosessin aikana VIN (t) -arvo muuttuu eksponentiaalisesti, laskeen alussa nopeasti ja hidastuen vähitellen ajan myötä. Kun testatun kondensaattorin Cx kapasiteetti on alle muutama tuhat pikofaradia, johtuen VIN:n (t) nopeasta laskusta alussa ja instrumentin alhaisesta mittausnopeudesta, ei ole aikaa heijastaa alkujännitearvoa. Siksi instrumentin alkuperäinen näytetty arvo on pienempi kuin akun jännite E.
(4) Kun mitattu kondensaattori Cx on suurempi kuin 1 μF, mittausajan lyhentämiseksi voidaan mittaukseen käyttää vastustilaa. Mutta kun testatun kondensaattorin kapasiteetti on alle 200pF, latausprosessia on vaikea havaita lyhyen lukeman muutoksen vuoksi.
