Jotkut optisen mikroskoopin tekniset parametrit
Numeerinen aukko, lyhennettynä NA, on tärkeä tekninen parametri objektiivilinsseissä ja kondensaattoreissa. Se toimii tärkeänä indikaattorina niiden suorituskyvyn arvioinnissa, erityisesti objektiivilinsseissä. Sen arvo on merkitty objektiivin ja kondensaattorin ulkokoteloon.
Numeerinen aukko (NA) määritellään objektiivin etulinssin ja näytteen välisen väliaineen taitekertoimen (n) ja aukkokulman puolikkaan sinin (u) tulona. Se ilmaistaan kaavalla: NA=n*sin(u/2)
Aukkokulma, joka tunnetaan myös kulma-aukona, on kulma, joka muodostuu objektiivin optisella akselilla olevan kohdepisteen ja objektiivin etulinssin tehollisen halkaisijan välillä. Suurempi aukkokulma päästää enemmän valoa objektiiviin. Se on verrannollinen objektiivin teholliseen halkaisijaan ja kääntäen verrannollinen polttoväliin.
2. Resoluutio
Mikroskoopin resoluutio viittaa kahden kohdepisteen väliseen vähimmäisetäisyyteen, joka mikroskoopilla voidaan selvästi erottaa, jota kutsutaan myös erotuskyvyksi. Sen laskentakaava on: σ=λ / NA
missä σ on pienin erottuva etäisyys; λ on valon aallonpituus; NA on objektiivin numeerinen aukko. Voidaan nähdä, että mikroskoopin resoluutio määräytyy objektiivin NA:n ja valaistusvalon aallonpituuden mukaan. Mitä suurempi NA ja mitä lyhyempi valaistuksen aallonpituus, sitä pienempi on σ:n arvo ja korkeampi resoluutio.
3. Suurennus ja hyödyllinen suurennus
Koska objektiivilinssillä ja okulaarilla saadaan aikaan suurennus kahdesti, mikroskoopin kokonaissuurennus Γ on objektiivin suurennuksen ja okulaarin suurennuksen Γ₁ tulos: Γ=*Γ₁
On selvää, että mikroskoopilla voidaan saada paljon suurempi suurennus verrattuna suurennuslasiin. Suurennusta on helppo säätää vaihtamalla objektiivilinssejä ja okulaareja eri suurennoksilla.
Suurennus on myös tärkeä mikroskoopin parametri, mutta suurempi suurennus ei aina ole parempi. Mikroskoopin suurennuksen raja määritellään hyödylliseksi suurennokseksi.
4. Tarkennuksen syvyys
Tarkennuksen syvyys on lyhenne sanoista polttosyvyys. Kun tarkennat kohteeseen mikroskoopilla, ei vain tarkennetun tason pisteet näy selvästi, vaan myös tietty paksuusalue tämän tason ylä- ja alapuolella pysyy terävänä. Tämän selkeän alueen paksuus on tarkennuksen syvyys. Suuri tarkennussyvyys mahdollistaa näytteen koko kerroksen havainnoinnin, kun taas pieni tarkennussyvyys mahdollistaa vain ohuen osan näytteen havainnoinnin. Tarkennuksen syvyydellä on seuraavat suhteet muihin parametreihin: (1) Tarkennuksen syvyys on kääntäen verrannollinen objektiivin kokonaissuurennukseen ja numeeriseen aukkoon. (2) Suurempi tarkennussyvyys vastaa pienempää resoluutiota.
Pienikokoisilla objektiiveilla on yleensä suuri tarkennussyvyys, mikä vaikeuttaa mikrokuvausta. Tämä kuvataan yksityiskohtaisesti mikrografiaa käsittelevässä osiossa.
