Nikon-mikroskoopit: viisi{0}}vaiheista optista huoltoprotokollaa
Alun perin metallografiasta johdettu sen päätarkoitus on ammattimainen instrumentti metallografisten rakenteiden havainnointiin. Se on mikroskooppi, joka on erityisesti suunniteltu tarkkailemaan läpinäkymättömien esineiden, kuten metallien ja mineraalien, metallografisia rakenteita. Näitä läpinäkymättömiä esineitä ei voida havaita tavallisessa läpäisevässä valomikroskoopissa, joten tärkein ero kullan ja tavallisen mikroskoopin välillä on, että edellinen valaisee heijastuneen valon, kun taas jälkimmäinen valaisee läpäisevällä valolla.
Metallografisilla mikroskoopeilla on hyvä vakaus, selkeä kuva, korkea resoluutio ja suuri ja tasainen näkökenttä. Se ei voi ainoastaan suorittaa mikroskooppista tarkkailua okulaarissa, vaan myös tarkkailla reaaliaikaisia-dynaamisia kuvia tietokoneen (digitaalikameran) näytöllä sekä muokata, tallentaa ja tulostaa vaadittuja kuvia. Sitä käytetään pääasiassa laitteistoissa, viipaloinnissa, IC-komponenteissa, LCD / LED-näytöissä ja muilla aloilla.
Koska metallografisia mikroskoopin linssejä on viisi tyyppiä: EPI-kirkaskenttäfluoresenssi; BD kirkas ja tumma kenttä; SLWD erittäin pitkä työmatka; ELWD vahvistaa työskentelyetäisyyttä; Varustettu korjausrenkaalla. Laiteteollisuudessa jotkin laitteistokomponentit, joissa on voimakasta heijastusta, voidaan havaita käytettäessä BD-objektiiveja, joissa on kirkkaita ja tummia kenttiä. Esimerkiksi LCD-teollisuudessa johtavia hiukkasia havainnoitaessa ja mitattaessa metallografinen mikroskooppi voidaan myös yhdistää DIC:n kanssa, jotta kohde näyttää kolmiulotteisemmalta. Koska se on polarisoitu, se on mikroskooppinen havaintotekniikka, joka käyttää kahta värisuodatinsarjaa polarisoidun valon muodostamiseen. Kahtaistaitteisten ominaisuuksiensa perusteella optisen polun suuntaa voidaan muuttaa. Polarisoitua valoa voidaan tietysti käyttää vain yhdessä DIC:n kanssa, ja sillä on vain vähän merkitystä. Metallografista mikroskooppia käytetään pienten mittojen, kuten IC-komponenttien ja metallografisten osien, mittaamiseen ja analysointiin. Se voidaan mitata älykkäällä Iview SIMS -ohjelmistolla, jolla on suuri tarkkuus ja joka vähentää tehokkaasti inhimillisiä mittausvirheitä. Helppo oppia ja käyttää, se voi helposti mitata ja analysoida relevantteja mittoja, kuten pisteitä, viivoja, kaaria, puolimeridiaaneja, suoria meridiaaneja, kulmia jne., ottaa helposti mittauskuvia ja mukauttaa erilaisia testiraportteja
