Yleismittarin piirissä olevan tasavirtaresistanssin tunnistusmenetelmä
1. In-circuit DC resistanssi tunnistusmenetelmä
Tämä on menetelmä yleismittarin ohmilohkon avulla mittaamaan suoraan piirilevyn piirilevyn piirilevyn ja oheiskomponenttien jokaisen nastan positiiviset ja negatiiviset DC-resistanssiarvot ja vertaamaan niitä normaaleihin tietoihin vian etsimiseksi ja määrittämiseksi. Huomioi seuraavat kolme seikkaa mittaaessasi:
(1) Irrota virtalähde ennen mittausta, jotta mittari ja komponentit eivät vaurioidu testin aikana.
(2) Yleismittarin sähkölohkon sisäinen jännite ei saa olla suurempi kuin 6 V ja alue on mieluiten R×100 tai R×1k.
(3) Mittattaessa IC-nastaparametreja tulee kiinnittää huomiota mittausolosuhteisiin, kuten testattu malli, potentiometrin liukuvarren asento suhteessa IC:hen jne., ja oheispiirikomponenttien laatuun tulee kiinnittää huomiota. myös harkita.
2. DC-käyttöjännitteen mittausmenetelmä
Tämä on tapa mitata tasavirtalähdejännitettä ja oheislaitteiden käyttöjännitettä yleismittarin tasajännitelohkolla, kun virta on päällä; tunnistaa IC:n jokaisen nastan tasajännitteen arvon maahan ja vertaa sitä normaaliarvoon ja pakkaa sitten vikaalue. Paikanna vaurioitunut komponentti. Kiinnitä huomiota seuraaviin kahdeksaan kohtaan mittaaessasi:
(1) Yleismittarin sisäisen resistanssin on oltava riittävän suuri, vähintään 10 kertaa suurempi kuin testattavan piirin vastus, jotta se ei aiheuta suuria mittausvirheitä.
(2) Yleensä käännä jokainen potentiometri keskiasentoon. Jos kyseessä on televisio, signaalilähteen tulee käyttää tavallista väripalkkisignaaligeneraattoria.
(3) Mittausjohtimien tai antureiden osalta on toteutettava liukumisen estäviä toimenpiteitä. IC vaurioituu helposti hetkellisen oikosulun vuoksi. Seuraavia menetelmiä voidaan käyttää estämään testikynän liukuminen: ota polkupyörän venttiilin ydin ja aseta se testikynän kärkeen ja pidennä testikynän kärkeä noin 0,5 mm, mikä ei vain voi testikynän kärki koskettaa testattuun pisteeseen hyvin, mutta estää myös tehokkaasti liukastumisen, se ei oikosulje vaikka se osuisi viereiseen pisteeseen.
(4) Kun nastan mitattu jännite ei vastaa normaaliarvoa, on analysoitava sen mukaan, onko nastan jännitteellä merkittävää vaikutusta IC:n normaaliin toimintaan ja vastaaviin muutoksiin muiden nastojen jännitteissä, sen arvioimiseksi, onko IC hyvä vai huono.
(5) Oheiskomponentit vaikuttavat IC-nastan jännitteeseen. Kun oheiskomponenteissa tapahtuu vuotoa, oikosulkua, katkosta tai arvon muutosta tai oheispiiri on kytketty muuttuvavastuksen omaavaan potentiometriin, potentiometrin liukuvarren asento on erilainen, mikä aiheuttaa nastan jännitteen muuttumisen.
(6) Jos IC:n jokaisen nastan jännite on normaali, IC:n katsotaan yleensä olevan normaali; jos IC:n joidenkin nastojen jännite on epänormaali, aloita kohdasta, jossa poikkeama normaaliarvosta on suurin, ja tarkista, ovatko oheiskomponentit viallisia. Jos vikaa ei ole, IC on todennäköisesti vaurioitunut. .
(7) Dynaamisissa vastaanottolaitteissa, kuten televisioissa, IC:n jokaisen nastan jännite on erilainen riippumatta siitä, onko signaalia vai ei. Jos havaitaan, että nastajännitteen ei pitäisi muuttua, vaan muuttuu suuresti, ja se, jonka pitäisi muuttua signaalin koon ja säädettävien komponenttien eri asemien mukaan, ei muutu, voidaan todeta, että IC on vaurioitunut.
(8) Laitteissa, joissa on useita toimintatiloja, kuten videonauhurit, IC:n jokaisen nastan jännite on myös erilainen eri toimintatiloissa.
3. AC käyttöjännitteen mittausmenetelmä
IC:n vaihtovirtasignaalin muutoksen ymmärtämiseksi voidaan käyttää dB-liittimellä varustettua yleismittaria IC:n AC-käyttöjännitteen likimääräiseen mittaukseen. Kun testaat, aseta yleismittari AC-jännitelohkoon ja aseta positiivinen mittausjohto dB-liittimeen; yleismittarissa, jossa ei ole dB-liitintä, 0.1-0.5 μF DC-estokondensaattori on kytkettävä sarjaan positiivisen testijohdon kanssa. Tämä menetelmä soveltuu suhteellisen alhaisen toimintataajuuden omaaville IC:ille, kuten televisioiden videovahvistinvaiheille, kenttäpyyhkäisypiireille jne. Koska näillä piireillä on erilaiset luonnolliset taajuudet ja aaltomuodot, mitatut tiedot ovat likimääräisiä ja ovat vain viitteellisiä.
4. kokonaisvirran mittaus
Tämä menetelmä on menetelmä arvioida, onko IC hyvä vai huono, ilmaisemalla IC-virtalähdelinjan kokonaisvirran. Koska suurin osa IC:istä on kytketty suoraan, IC:n vaurioituminen (kuten PN-liitoksen rikkoutuminen tai avoin piiri) aiheuttaa kyllästymisen ja seuraavan vaiheen katkaisun aiheuttaen kokonaisvirran muutoksen. Siksi IC voidaan arvioida mittaamalla kokonaisvirta. Sitä voidaan käyttää myös vastuksen jännitehäviön mittaamiseen tehotiellä ja Ohmin lain avulla laskea kokonaisvirran arvo.
