Elektronisten komponenttien laadun testausmenetelmät yleismittarilla
Huollon aikana tulee käyttää yleismittaria, jolla tarkistetaan elektronisten komponenttien laatu vikatilanteen perusteella. Virheellinen mittaustapa voi johtaa virhearviointiin, mikä vaikeuttaa huoltotyötä ja aiheuttaa jopa tarpeettomia taloudellisia menetyksiä. Mittausmenetelmät on jaettu kahteen tyyppiin: komponenttien testaus ja piirilevyjen testaus piiritestauksessa. Tietestissä: Irrota taajuusmuuttajan virransyöttö ja mittaa piirilevyn komponentit purkamatta niitä. Tällä tunnistusmenetelmällä voidaan helposti ja nopeasti paikantaa vaurioituneet komponentit komponenttien rikkoutuessa, oikosulkussa ja avoimessa piirissä. Kuitenkin myös piirilevyllä olevien mitattujen komponenttien ja niiden rinnakkaiskomponenttien vaikutus mittaustuloksiin tulee ottaa huomioon virhearviointivirheiden välttämiseksi. Tässä on menetelmät elektronisten komponenttien laadun arvioimiseksi:
1. Tavallisten diodien havaitseminen
Mittaa MF47-yleismittarilla, liitä punainen ja musta anturi diodin molempiin päihin, lue lukema ja vaihda sitten mittausanturit. Kahden mittauksen tulosten perusteella pienitehoisten germaniumdiodien myötävastusarvo on yleensä 300-500 Ω, kun taas piidiodien noin 1k Ω tai suurempi. Germaniumputken käänteisvastus on useita kymmeniä kiloohmeja ja piiputken käänteisvastus on yli 500k Ω (suurtehoisen diodin arvo on paljon pienempi). Hyvällä diodilla on alhainen eteenvastus ja korkea vastaresistanssi, ja mitä suurempi ero eteenpäin- ja taaksepäinvastuksessa, sitä parempi. Jos mitattu eteen- ja taaksepäin vastus on hyvin pieni ja lähellä nollaa, se tarkoittaa, että diodi on oikosulussa sisäisesti; Jos eteen- ja taaksepäin vastus on erittäin korkea tai taipumus äärettömään, se tarkoittaa, että putken sisällä on avoin piiri. Molemmissa tapauksissa diodi on romutettava.
Tietestauksessa: Diodin pn-liitoksen myötä- ja taaksepäinresistanssin testaaminen helpottaa sen määrittämistä, onko diodissa oikosulku vai katkeaa virta.
2. Pn-liitoksen tunnistus
Aseta digitaalinen yleismittari dioditilaan ja mittaa pn-liitos anturin avulla. Jos se johtaa eteenpäin, näytetty luku on pn-liitoksen myötäsuuntainen jännitehäviö. Määritä ensin kollektori- ja emitterielektrodit; Mittaa kahden pn-liitoksen myötäjännitehäviö anturin avulla. Emitterillä on suurin jännitehäviö, kun taas kollektorilla on pienin jännitehäviö. Testattaessa kahta risteystä, jos punainen anturi on kytketty yhteiseen elektrodiin, testattu transistori on npn-tyyppinen ja punainen anturi on kytketty kantaan b. Jos musta anturi on kytketty yhteiseen elektrodiin, testattu transistori on pnp-tyyppinen ja tämä elektrodi on kanta b. Kun transistori on vaurioitunut, pn-liitoksella voi olla kaksi tilannetta: oikosulku ja avoin piiri.
Piiritestauksessa: Piiritestauksessa transistorin testaus saavutetaan itse asiassa testaamalla pn-liitoksen myötä- ja vastaresistanssi sen määrittämiseksi, onko transistori vaurioitunut. Haararesistanssi on suurempi kuin pn-liitoksen myötävastus. Normaalisti mitatussa etu- ja taaksepäinvastuksessa pitäisi olla merkittävä ero, muuten pn-liitos vaurioituu. Kun haararesistanssi on pienempi kuin pn-liitoksen myötävastus, haara tulee irrottaa, muuten transistorin laatua ei voida määrittää.
3. Kolmivaiheisen tasasuuntaajan siltamoduulin tunnistus
Esimerkkinä Semikron-tasasuuntaajasiltamoduuli, kuten oheisessa kuvassa näkyy. Aseta digitaalinen yleismittari dioditestitilaan, liitä musta anturi liitäntään com ja punainen anturi v ω:ään ja käytä punaista ja mustaa mittapäätä myötä- ja taaksepäin suunnattujen diodin ominaisuuksien mittaamiseen vaiheiden 3, 4 ja 5 sekä napojen 2 ja 1 välillä tarkistaaksesi ja määrittääksesi, onko tasasuuntaaja silta ehjä. Mitä suurempi ero mitatuissa positiivisissa ja negatiivisissa ominaisuuksissa on, sitä parempi; Jos eteen- ja taaksepäin suunnat ovat nolla, se osoittaa, että havaittu vaihe on katkennut ja oikosulussa; Jos sekä eteen- että taaksepäin suunnat ovat äärettömät, se osoittaa, että havaittu vaihe on katkaistu. Jos tasasuuntaajasiltamoduulin yksi vaihe on vaurioitunut, se on vaihdettava.
4. Invertterin IGBT-moduulin tunnistus
Aseta digitaalinen yleismittari dioditestitilaan ja testaa IGBT-moduulien c1 väliset myötä- ja taaksepäin diodiominaisuudet. e1 ja c2. e2 sekä porttien g ja e1 välillä, e2, jotta voidaan määrittää, onko IGBT-moduuli ehjä.
