Suurennus-perustuva havainnointi stereomikroskoopilla

Nov 29, 2025

Jätä viesti

Suurennus-perustuva havainnointi stereomikroskoopilla

 

Stereomikroskooppia käytetään elektronisten komponenttien, integroitujen piirilevyjen, pyörivien leikkaustyökalujen, magneettien jne. kolmiulotteiseen tarkasteluun ja havainnointiin. Kuinka mukautua näihin erilaisiin vaatimuksiin sen perusteella, että näitä erilaisia ​​esineitä on tarkkailtava eri suurennoksilla? Se voidaan ratkaista monella tavalla. a. Se voidaan saavuttaa optisella suorituskyvyllä. b. Se voidaan valita videotarkkailuun. c. Se voidaan saavuttaa mekaanisella suorituskyvyllä. d. Se voidaan valaista valonlähteellä
Optinen suorituskyky: Mitattavan kohteen havaintovaatimusten perusteella valitaan erilaisia ​​okulaarit/objektiivit ratkaisemaan ongelmia, kuten suuri suurennus ja suuri näkökenttä. Kun tarvitaan vain suurta suurennusta, suurennostunut okulaari ja objektiivi voidaan vaihtaa. Kun tarvitaan laajaa näkökenttää, objektiivin linssi voidaan vaihtaa okulaarin linssin pienentämiseksi vaatimusten mukaiseksi.

 

Videotarkkailu: Kun optinen suurennus on riittämätön, voidaan kompensoida elektronista suurennusta. Tarkasteltaessa ja halutessamme säilyttää ja säilyttää samanaikaisesti, voimme valita videoita. Videoformaatteja on useita: A. Sitä voidaan käyttää suoraan monitorin kautta B. Se voidaan liittää tietokoneeseen (digitaalisen CCD:n tai analogisen CCD-kuvankeräyskortin kautta) C. Se voidaan liittää digitaalikameraan (eri digitaalikameroissa on otettava huomioon erilaiset liitännät ja yhteensopivuus mikroskoopin kanssa)

 

Mekaaninen suorituskyky: Kun kohtaat hitsauksen, kokoonpanon, suurten integroitujen piirilevyjen tarkastukset ja työskentelyetäisyysvaatimukset, voimme ratkaista ne mekaanisella suorituskyvyllä, kuten yleiskiinnikkeet, keinuvarsikannattimet, suuret siirrettävät alustat jne. Suorituskykyominaisuuksillaan voimme suorittaa havainnointityömme suoraan käyttämällä kiinnikkeitä ja tasoja, kun havaitsemme suuria esineitä. Testattua esinettämme ei tarvitse siirtää. Esimerkiksi testattavan piirilevyn suuren koon ja lievän kallistushavainnon vuoksi ABB:n on vaikea siirtää piirilevyä ja testaustyö voidaan suorittaa vain mekaanisella liikkeellä. Yleiskiinnikkeen toiminta voi samanaikaisesti täyttää nämä käyttövaatimukset.

 

Valonlähteen valaistus: Valonlähteen valaistuksella on ratkaiseva rooli siinä, näkyykö mitattava kohde selvästi. Valaistusta valittaessa on tarpeen valita vastaava valaistustyökalu ja valaistusmenetelmä itse mitattavan kohteen ominaisuuksien perusteella (ottaen huomioon sen valovaatimukset, kuten voimakas/heikko/heijastava jne.).

 

2 Electronic Microscope

Lähetä kysely