Johdanto metallografisen mikroskoopin soveltamiseen eri toimialoilla
Alun perin metallografiasta johdettu päätarkoitus on ammattimainen väline metallografisten rakenteiden tarkkailuun. Se on mikroskooppi, joka on erityisesti suunniteltu läpinäkymättömien esineiden, kuten metallien ja mineraalien metallografisten rakenteiden tarkkailemiseksi. Näitä läpinäkymättömiä esineitä ei voida havaita tavallisessa siirtovalomikroskoopilla, joten tärkein ero kullan ja tavallisen mikroskoopin välillä on, että entistä valaisee heijastunut valo, kun taas jälkimmäistä valaisee lähetetty valo.
Metallografisilla mikroskoopeilla on ominaisuudet hyvän stabiilisuuden, selkeän kuvantamisen, korkean resoluution ja suuren ja tasaisen näkökentän. Se ei voi vain suorittaa mikroskooppisia havaintoja okulaarissa, vaan myös tarkkailla reaaliaikaisia dynaamisia kuvia tietokoneen (digitaalikamera) -näytöllä ja voi muokata, tallentaa ja tulostaa vaadittavat kuvat. Sitä käytetään pääasiassa laitteistoissa, viipaloinnissa, IC -komponenteissa, LCD/LEDissä ja muissa kentissä.
Koska metallografisia mikroskooppilinssejä on viisi tyyppiä: EPI Bright Field -fluoresenssi; BD kirkas ja tumma kenttä; SLWD erittäin pitkä työetäisyys; ELWD vahvistaa työetäisyyttä; Varustettu korjausrenkauksella. Laiteteollisuudessa jotkut laitteistokomponentit, joilla on vakava heijastus, voidaan havaita käyttämällä BD -linssejä, joilla on kirkkaat ja tummat kentät. Esimerkiksi LCD-teollisuudessa, kun tarkkailemalla ja mittaamalla johtavia hiukkasia, metallografinen mikroskooppi voidaan myös yhdistää DIC: n kanssa, jotta esine näyttäisi kolmiulotteisemmalta. Koska se on polarisoitu, mikroskooppinen havaintotekniikka, joka käyttää kahta värisuodattimia polarisoituneen valon muodostamiseen. Kahdenpitävyyden ominaisuuksien perusteella optisen polun suunta voidaan muuttaa. Polarisoitua valoa voidaan tietysti käyttää vain yhdessä DIC: n kanssa, ja sillä on vain vähän merkitystä yksinään. Metallografista mikroskooppia käytetään pienten mittojen, kuten IC -komponenttien ja metallografisten osien mittaamiseen ja analysointiin. Se voidaan mitata älykkäällä ohjelmistolla IView Sims, jolla on korkea tarkkuus ja vähentää tehokkaasti ihmisen mittausvirheitä. Helppo oppia ja käyttää, se voi helposti mitata ja analysoida asiaankuuluvia ulottuvuuksia, kuten pisteitä, viivoja, kaaria, puoliksi meridiaaneja, suoria meridiaaneja, kulmia jne., Ottaen helposti mittauskuvia ja mukauttaa erilaisia testikertomuksia
