Johdatus pyyhkäisyanturimikroskoopin ominaisuuksiin
Pyyhkäisykoetinmikroskooppi (Scanning Probe Microscope, SPM) on pyyhkäisytunnelimikroskooppi ja skannaava tunnelointimikroskooppi, joka perustuu useiden uusien koetinmikroskooppien (atomivoimamikroskooppi AFM, laservoimamikroskooppi LFM, magneettivoimamikroskooppi MFM ja magneettinen voimamikroskooppi) kehitykseen. niin edelleen) yhdessä, onko analyyttisten välineiden pinnan kansainvälinen kehitys viime vuosina, on optoelektroniikan, lasertekniikan, heikon signaalin havaitsemistekniikan, tarkan mekaanisen suunnittelun ja käsittelyn, automaattisen ohjaustekniikan, digitaalisen signaalinkäsittelytekniikan kattava käyttö , sovellettu optinen tekniikka, tietokone nopea hankinta-ja ohjaus-ja korkean resoluution graafisen käsittelyn teknologian ja muiden nykyaikaisten tieteellisten ja teknologisten saavutusten optinen, mekaaninen ja sähköinen integrointi high-tech-tuotteita. Tällä uudentyyppisellä mikroskooppisella työkalulla on ilmeisiä etuja verrattuna useisiin aikaisempiin mikroskooppeihin ja analyyttisiin instrumentteihin:
1, SPM:llä on erittäin korkea resoluutio. Se voi helposti "nähdä" atomin, jota on vaikea saavuttaa yleismikroskoopilla ja jopa elektronimikroskoopilla.
2, SPM on reaaliaikainen, todellinen näytepinnan korkean resoluution kuva, on todella nähdä atomi. Toisin kuin jotkut analyyttiset instrumentit, näytteen pintarakenne päätetään epäsuorien tai laskennallisten menetelmien avulla.
3, SPM:ää käytetään rennossa ympäristössä. Elektronimikroskoopilla ja muilla välineillä työympäristön vaativampia vaatimuksia, näyte on sijoitettava korkean tyhjiön olosuhteisiin, jotta voidaan testata. SPM voi toimia tyhjiössä, mutta myös ilmakehässä, matalassa lämpötilassa, huoneenlämpötilassa, korkeassa lämpötilassa ja jopa liuoksessa. Siksi SPM soveltuu tieteellisiin kokeisiin erilaisissa työympäristöissä.
