Infrapunateknologiaa sovellettu kannettaviin infrapunalämpömittareihin
Tarkka lämpötilan mittaus perustuu asiaankuuluvien periaatteiden selkeään ymmärtämiseen. Infrapunalämpömittarilla mittaamisen aikana mitatun kohteen lähettämä infrapunaenergia muunnetaan sähköiseksi signaaliksi ilmaisimessa instrumentin optisen järjestelmän kautta, jonka jälkeen signaali käsitellään lämpötilalukeman näyttämiseksi. Tarkkaan lämpötilan mittaamiseen vaikuttavat useat keskeiset tekijät, joista kriittisimmät ovat emissiivisyys, näkökenttä, etäisyys-pistesuhde ja pisteen paikannus.
Emissiokyky
Kaikki esineet heijastavat, välittävät ja säteilevät energiaa; vain säteilevä energia heijastaa kohteen todellista lämpötilaa. Kun infrapunalämpömittari mittaa pintalämpötilaa, se vastaanottaa kaikki kolme energiamuotoa. Siksi infrapunalämpömittarit on säädettävä havaitsemaan vain säteilyenergiaa. Mittausvirheet johtuvat yleensä ulkoisista lämmönlähteistä heijastuvasta infrapunaenergiasta.
Joissakin infrapunalämpömittareissa on säädettävä emissiokyky, ja eri materiaalien emissioarvot ovat saatavilla julkaistuissa emissioarvotaulukoissa. Muut laitteet käyttävät kiinteää esiasetettua emissiiviteettiä 0,95, joka koskee useimpia orgaanisia materiaaleja, maalattuja pintoja ja hapetettuja pintoja. Korjausta vaativille pinnoille kiinnitä erikoismittanauha tai maalaa mattamusta maali kohdealueelle kompensaationa. Kun teippi tai maali saavuttaa lämpötasapainon perusmateriaalin kanssa, mittaa sen pintalämpötila saadaksesi kohteen todellisen lämpötilan.
Etäisyyden ja pisteen välinen suhde
Infrapunalämpömittarin optinen järjestelmä kerää energiaa pyöreästä mittauspisteestä ja kohdistaa sen ilmaisimeen. Optinen resoluutio määritellään lämpömittarin ja kohteen etäisyyden suhteeksi mittauspisteen halkaisijaan (D:S). Suurempi suhde tarkoittaa parempaa optista resoluutiota ja pienempää mitattavaa pistekokoa.
Laser tähtäys
Laserkohdistus on tarkoitettu ainoastaan mittauspisteen sijoittamiseen. Uusimmat päivitykset infrapunaoptiikkaan sisältävät lähitarkennustoiminnon, joka mahdollistaa pienten kohdealueiden erittäin tarkan mittauksen ja minimoi ympäristön taustalämpötilojen aiheuttamat häiriöt.
Näkökenttä
Mitattavan kohteen tulee olla suurempi kuin instrumentin mittauspiste. Pienemmät kohteet vaativat lyhyemmän mittausetäisyyden. Tarkkuusmittausskenaarioissa varmista, että kohdekoko on vähintään kaksi kertaa mittauspisteen halkaisija.
