Elektronien vuorovaikutus aineen kanssa on perusta pyyhkäisyelektronimikroskooppien tuotannolle. Toisioelektroneja, Auger-elektroneja, tunnusomaisia röntgensäteitä ja jatkuvatoimisia röntgensäteitä, takaisinsironneet elektronit, läpäisevät elektronit ja sähkömagneettinen säteily näkyvällä, ultravioletti- ja infrapuna-alueella kaikki syntyvät, kun suurienergisten saapuvien elektronien säde pommittaa asia. Hilavärähtelyt (fononit), elektronivärähtelyt (plasmat) ja elektroni-reikä-pareja voidaan tuottaa samaan aikaan. Teoriassa useita itse näytteen fysikaalisia ja kemiallisia ominaisuuksia, mukaan lukien sen muoto, koostumus, kiderakenne, elektronirakenne ja sisäiset sähkö- tai magneettikentät, voidaan määrittää hyödyntämällä elektronien ja aineen välistä vuorovaikutusta.
Luodakseen näytteen pinnalle tietyn energian, intensiteetin ja pistehalkaisijan omaavan elektronisuihkun elektronikanuuna lähettää elektronisuihkun, jonka energia on enintään 30 keV, jonka suppeneva linssi ja objektiivilinssi sitten vähentävät ja fokusoivat. . Tuleva elektronisuihku rasteri piste pisteeltä pyyhkäisee näytteen pintaa pyyhkäisykelan magneettikentän vaikutuksesta tietyssä ajassa ja tilassa. Toissijaiset elektronit virittyvät näyteelektroniikasta johtuen tulevan elektronin kosketuksesta näytteen pintaan. Toissijaisen elektronin kerääjän toiminto mahdollistaa sen, että se kaappaa toisioelektroneja, jotka emittoivat kaikkiin suuntiin.
ja sitten kiihdytyselektrodilla työnnetään tuikeeseen optiseksi signaaliksi muuntamista varten, ennen kuin se kulkee valoputkea pitkin valomonistinputkeen optisen signaalin toisen muuntamisen läpikäymiseksi. lähettää sähköisiä signaaleja. Videovahvistin vahvistaa tämän sähköisen signaalin, joka sitten syötetään kuvaputken verkkoon säätelemään sen kirkkautta ja näyttämään toissijaisen elektronikuvan, joka heijastaa näytteen pinnan vaihtelua fluoresoivalla näytöllä.
TEM-kuvantaminen, jossa käytetään magneettikuvausta ja joka valmistuu kerralla, on täysin erilainen.
Elektronioptinen järjestelmä, skannausjärjestelmä, signaalintunnistusjärjestelmä, näyttöjärjestelmä, virtalähde ja tyhjiöjärjestelmä muodostavat suurimman osan pyyhkäisyelektronimikroskoopista. Grafiikka näyttää kaavamaisen esityksen sen rakenteesta. Liimatestauksessa käytetään yleisimmin pyyhkäisyelektronimikroskooppia.
