Tarkennuksen säätö ja linjan kohdistusmenettelyt työkalumikroskoopeille

Dec 05, 2025

Jätä viesti

Tarkennuksen säätö ja linjan kohdistusmenettelyt työkalumikroskoopeille

 

Työkalumikroskooppia käytettäessä tarkka tarkennus ja kohdistaminen ovat välttämättömiä. Saman mitatun kohteen mittausvirhe on yleensä välillä 1-2 mikronia. Siksi vain oikea tarkennus ja kohdistaminen voivat varmistaa mittaustulosten tarkkuuden. Oikeat tarkennus- ja kohdistusmenetelmät (paineviiva) esitellään seuraavasti:

Yksi tarkennusmenetelmä

 

1. Säädä ensin okulaarin näöntarkkuus, eli säädä selkeä kaiverrettu viivakuva, joka voidaan havaita okulaarin näkökentässä. Jos mittauslaite ei saa selkeää kaiverrettua viivakuvaa okulaarin näkökentässä, säädä okulaarin näöntarkkuusympyrä vastaamaan mittaajan näköä, jotta saat selkeän mittariviivan.

 

2. Siirrä keskimikroskooppia tarkentavalla käsipyörällä saadaksesi selkeän kuvan kohteen ääriviivasta okulaarin näkökentässä, ja siirrä sitten pituus- ja poikittaistyöpöytää kohdistamista varten. Jos mittaajan silmät tärisevät ylös ja alas, vasemmalle ja oikealle okulaarissa eikä suhteellista liikettä havaita kohdekuvan ja hiusristikon välillä, se tarkoittaa, että mitattava kohde on kuvattu oikein hiusristikkoon ja mittaus voidaan suorittaa tällä hetkellä. Jos kohdekuvan ja hiusristikon välillä on suhteellista liikettä, se osoittaa, että mikroskooppia ei ole tarkennettu kunnolla ja tarvitaan tarkempaa tarkennusta, jotta kohdekuva ja hiusristikko saadaan samalle tasolle.

 

II Linjapuristusmenetelmä

Viivan kohdistus (paineviiva) on prosessi, jossa mitatun kohteen kuvan ääriviivareuna limitetään metriviivalla, joka tunnetaan myös tähtäyksenä. Tietylle työkalumikroskoopille instrumentin tarkkuus on varma. Korkean ja luotettavan mittaustarkkuuden saavuttaminen riippuu suurelta osin oikeasta kohdistusmenetelmästä. Kohdistusmenetelmiä on kaksi, toinen on aukon kohdistusmenetelmä ja toinen limityskohdistusmenetelmä.

 

1. Gap to line -menetelmä soveltuu kulman mittaukseen. Jos kulmaa mitattaessa jokin mittariviivan katkoviiva asetetaan mitatun kulman toiselle puolelle näkökentässä, mittariviivan katkoviivan ja mitatun kulman reunan välillä säilyy kapea rako. Mittari määrittää mittariviivan katkoviivan ja mitatun kohteen kuvan reunan välisen kohdistusasteen raon koon tasaisuuden perusteella. Jos yllä olevaa kohdistusmenetelmää ei käytetä ja päällekkäisyys kuvan reunan kanssa otetaan suoraan käyttöön, se ei ainoastaan ​​vaikeuta mittaajan kohdistamista, vaan myös lisää mittausvirhettä. Tässä vaiheessa kuva testattavan kohteen ääriviivasta näkökentässä ei ole ohut viiva, vaan vaalea ja tumma ääriviiva, ja mittariviivan kaiverretuilla viivoilla on tietty leveys. Jos ne ovat limittäin mittaamista varten, seurauksena on väistämättä merkittäviä kohdistusvirheitä, varsinkin kun mitatun kulman reunat ovat suhteellisen lyhyitä, tilanne muuttuu vielä vakavammaksi. Tästä syystä kulman mittaamiseen tulee käyttää aukon kohdistusmenetelmää.

 

2. Päällekkäinen kohdistusmenetelmä. Jos yllä-mainittua aukon kohdistusmenetelmää käytetään edelleen pituuden mittauksen aikana, se lisää pituuden mittausvirhettä. Syynä on, että rakoa ei voida mitata ja se sisältyy mitattuun pituuden mittausarvoon. Siksi pituuden mittaamiseen käytetään limitysviivamenetelmää. Mittariviivan katkoviiva menee päällekkäin tarkasti ääriviivakuvan reunan kanssa siten, että puolet katkoviivasta on ääriviivakuvan sisällä ja toinen puoli kuvan ulkopuolella. Kohdistuksessa mittariviivan katkoviivan keskikohta tulee ottaa viitteeksi ja sen jatketta käyttää viitteenä tarkkojen mittaustulosten saamiseksi.

 

4 Electronic Magnifier

Lähetä kysely