Polarisoivien mikroskooppien ohuiden osien valmistusmenettely
Ohuiden osien valmistusprosessi polarisaatiomikroskooppeja varten
Polarisoivalla mikroskoopilla tarkasteltaessa näytteistä on tehtävä hyväksyttyjä ohuita leikkeitä tai kiillotettuja leikkeitä, joita kutsutaan yhteisesti ohuiksi leikkeiksi. Valmistusprosessi on seuraava:
(1) Näytteenotto: Valitse edustavat alueet näytteestä havainnointi- ja analyysivaatimusten mukaisesti, leikkaa ne 10×10×10 mm:n kuutioiksi ja puhdista huolellisesti.
(2) Asennus tai istuttaminen: Pienet näytteet vaativat kiinnityksen. Näytteet, joissa on huokoinen tai löysä rakenne, on ensin kyllästettävä.
(3) Karkea hionta: Aseta näytteen tasaisempi puoli hiomakoneeseen, hio pinta karkealla hiomajauheella profiilin leikkaamiseksi ja terävien reunojen ja kulmien poistamiseksi.
(4) Hienohionta: Hio hienolla hiomajauheella, kunnes kaikki karkean hionnan jättämät jäljet on poistettu.
(5) Esikiillotus: Käytä hienompaa hiontajauhetta hiomiseen, kunnes pinta muuttuu tasaiseksi. Kirkkaassa valossa pinnalla voi havaita heikkoa valon heijastusta.
(6) Kiillotus: Aseta näyte kiillotuskoneeseen, lisää kiillotusainetta (kiillotusjauhetta) kiillotusta varten, kunnes näytepinta
on kirkas eikä näkyviä naarmuja ole näkyvissä heijastuneen valon mikroskoopin alla.
(7) Merkinnät: Numeroi jauhetut näytteet ja liitä tarrat niiden lähteen ja nimen määrittämiseksi.
(8) Etsaus: Valitse sopivat syövytysmenetelmät ja -olosuhteet näytteen syövyttämistä varten havainnointi- ja analyysivaatimusten mukaisesti.
Jos mikrorakenneanalyysi on suoritettava sekä läpäisevässä että heijastuneessa valossa, näyte on valmistettava ohueksi osaksi tai jopa erittäin ohueksi osaksi (<0.02 mm). For thin section preparation, first grind the specimen into a 0.03 mm-thick slice without covering it with a coverslip. Then polish the pre-ground slice surface on a polishing machine to complete the thin section.
