Kondensaattorien laadun arvioiminen ammattikäyttöisellä yleismittarilla
1. Piirissä DC-resistanssin tunnistusmenetelmä
Tämä on menetelmä, jossa käytetään yleismittarin ohmia mittaamaan suoraan piirilevyn piirilevyn eri nastojen ja oheiskomponenttien myötä- ja taaksepäin DC-resistanssiarvot ja verrata niitä normaaleihin tietoihin vikojen havaitsemiseksi ja määrittämiseksi. Kun mittaat, kiinnitä huomiota seuraaviin kolmeen seikkaan:
(1) Irrota ennen mittausta, jotta mittari ja komponentit eivät vaurioidu testauksen aikana.
(2) Yleismittarin vastusalueen sisäinen jännite ei saa ylittää 6 V, ja alue voidaan asettaa joko R × 100 tai R × 1k.
(3) Mittattaessa IC-nastaparametreja tulee kiinnittää huomiota mittausolosuhteisiin, kuten testattu malli, IC:hen liittyvien potentiometrien liukuvarren asento ja oheispiirikomponenttien laatu.
2. DC-käyttöjännitteen mittausmenetelmä
Tämä on menetelmä DC-syöttöjännitteen ja oheislaitteiden käyttöjännitteen mittaamiseksi käyttämällä yleismittarin DC-jännitealuetta, kun virta on kytkettynä; Tunnista tasavirtajännitearvot IC:n jokaisen nastan maadoitukseen, vertaa niitä normaaleihin arvoihin ja pakkaa sitten vikaalue vaurioituneiden komponenttien tunnistamiseksi. Kun mittaat, kiinnitä huomiota seuraaviin kahdeksaan kohtaan:
(1) Yleismittarin sisäisen resistanssin tulee olla riittävän suuri, vähintään 10 kertaa suurempi kuin testattavan piirin vastus, jotta vältytään merkittäviltä mittausvirheiltä.
(2) Yleensä käännä jokainen potentiometri keskiasentoon. Jos kyseessä on televisio, signaalilähteen tulee käyttää tavallista väripalkkisignaaligeneraattoria.
(3) Anturi tai anturi on varustettava liukastumisenestolaitteella. Mikä tahansa hetkellinen oikosulku voi helposti vahingoittaa IC:tä. Seuraavilla menetelmillä voidaan estää anturin liukuminen: ota osa polkupyörän venttiilin sydämestä ja aseta se anturin kärkeen ja pidennä anturin kärkeä noin 0,5 mm. Tämä ei ainoastaan takaa hyvää kosketusta anturin kärjen ja testatun pisteen välillä, vaan myös estää tehokkaasti liukastumisen, vaikka se koskettaisikin viereisiä pisteitä, se ei oikosulje{5}}.
(4) Kun tietyn nastan jännite ei vastaa normaaliarvoa, IC:n laadun määrittämiseksi on tarpeen analysoida, onko kyseisen nastan jännitteellä merkittävää vaikutusta IC:n normaaliin toimintaan ja vastaaviin muutoksiin muiden nastojen jännitteissä.
(5) Kehä vaikuttaa IC-nastojen jännitteeseen. Kun oheiskomponenteissa on vuoto, oikosulku, katkos tai arvon muutos tai kun oheispiiriin on kytketty muuttuvavasteinen potentiometri, potentiometrin liukuvarren asento aiheuttaa muutoksia nastan jännitteeseen.
(6) Jos IC:n jokaisen nastan jännite on normaali, IC:n katsotaan yleensä olevan normaali; Jos IC:n nastojen jännite on epänormaali, on tarkistettava mahdolliset viat oheiskomponenteissa alkaen kohdasta, jossa poikkeama normaaliarvosta on suurin. Jos vikoja ei ole, IC on todennäköisesti vaurioitunut. www.diangon.com
(7) Dynaamisissa vastaanottolaitteissa, kuten televisioissa, IC:n kunkin nastan jännite vaihtelee signaalin kanssa ja ilman sitä. Jos havaitaan, että nastojen jännitteen ei pitäisi muuttua, vaan muuttuu merkittävästi, eikä jännite, jonka pitäisi muuttua signaalin koon ja säädettävän komponentin sijainnin mukaan, ei muutu, voidaan todeta, että IC on vaurioitunut.
(8) Laitteissa, joissa on useita toimintatiloja, kuten videonauhurit, IC:n jokaisen nastan jännite on myös erilainen eri toimintatiloissa.
