Laitteen tarkastus kauko-infrapunalämpömittarilla
1 Perinteisen lämpötilan mittauksen rajoitukset
Kun sähkölaitteeseen on syötetty virtaa, laitteen lämpötila muuttuu ja sen lämpöarvo on verrannollinen syötetyn virran neliöön; pyörivien sähkölaitteiden ja mekaanisten laitteiden laakerien lämpötilan muutos liittyy läheisesti jäähdytysväliaineeseen, liukukitkaan ja vierintäkitkaan... Laitteet Kaikenlainen vika ilmenee enimmäkseen lämpötilan muutoksina. Laitteen lämpötilan muutoksen havaitsemisella, laitteiden epänormaalin ja toimintahäiriön ajoissa arvioimisella ja havaitsemisella on suuri merkitys laitteiden toiminnan luotettavuuden parantamiseksi, laitteiden käyttöiän pidentämiseksi sekä laitevaurioiden ja henkilövahinkojen välttämiseksi. Kuten kaikki tiedämme, perinteinen menetelmä laitteiden tarkastusten lämpötilan mittaamiseen on käyttää elohopealämpömittareita ja alkoholi (kerosiini) lämpömittareita. Sähkömagneettiset kentät häiritsevät suuresti elohopealämpömittareita, ja alkoholi- (kerosiini) lämpömittareissa on erittäin suuria virheitä mitatessaan laitteita, joissa on korkea lämpötila. Siksi uusien laitteiden lämpötilan mittaustyökalu - kauko-infrapunalämpömittari on käytetty laajalti.
2 Uuden kauko-infrapunalämpötilan mittaustekniikan sovellustila
Kauko-infrapunalämpötilan mittaustekniikka on uudenlainen kosketukseton testaustekniikka, joka on tuotu viime vuosina Euroopan ja Amerikan maista ja jota on käytetty laajalti energiateollisuudessa. Kauko-infrapunalämpötilan mittaustekniikkaa käytetään pääasiassa voimalaitoksilla ja sähköasemilla sähkölaitteiden lämpötilan mittaamiseen eli sähkölaitteiden virran aiheuttaman lämpenemisen ja ylikuormituksen mittaamiseen, erotuskytkimen ja katkaisijan vian ylikuumenemiseen sekä metalliliitososa, ja kaapelin pään ylikuumenemisvika jne. Sitä käytetään kuitenkin harvoin pyörivien laitteiden laakerin lämpötilan mittaamiseen, vuotaako suljettu säiliö, havaita höyrynerotin, löytää eristysvika prosessiputkistosta tai muu eristysprosessi jne. Olen työssäni törmännyt useisiin tapauksiin, joissa laitteiston valumattoman osan lämpötilaa mittaamalla löydetyt laitevirheet ovat tyypillisiä ja edustavia.
