Paksuusmittareiden luokittelu ja käyttö
1. Laserpaksuusmittari käyttää laserheijastuspinnan perusperiaatetta työkappaleen paksuuden mittaamiseen mittaamalla ja tarkkailemalla kappaleen työstetyn pinnan ulkoista taloudellista geometriaa optisen poikkileikkausmenetelmän mukaisesti mekaanisten laitteiden valmistuksessa. laitteet. Se on kosketukseton dynaaminen mittauslaite. Se voi lähettää välittömästi analogisia signaaleja ja yhdistää teollisen tuotannon elektronisiin tietokoneisiin, analysoida nopeasti datatietoja ja tulostaa virhearvoja erilaisiin mekaanisiin laitteisiin.
2. Kun röntgensäteen paksuusmittari kulkee röntgensäteiden avulla mitattavan raaka-aineen läpi, röntgensäteen puristuslujuuden muutos liittyy raaka-aineen paksuuteen. Cangzhou Opal mittaa sitten raaka-aineen paksuuden kosketuksettomalla menetelmällä. Dynaamiset mittauslaitteet. Se ottaa PLC:n ja teollisuustuotannon elektronisen tietokoneen avaimeksi, kerää mittaustietoja ja tulostaa yleisen tavoitevirhearvon ekstruuderin automaattiseen paksuudensäätöjärjestelmään, jotta saavutetaan määritetty kylmävalssauspaksuus. Tärkeimmät sovellusalueet: harvinaisten metallien nauhojen ja kalvojen valmistus ja käsittely, teollisuusnauhojen valmistus ja käsittely.
3. Painopaperin paksuusmittari: sopii erilaisten muovikalvojen, painopaperin, kartongin ja muiden alle 4 mm:n arkkien paksuuden mittaamiseen.
4. Muovikalvon paksuusmittari: käytetään muovikalvojen, -levyjen ja muiden raaka-aineiden paksuuden mittaamiseen, laaja mittausalue, korkea mittaustarkkuus, datatietojen ulostulo, valinnainen asennon nollaus, ulkokierteen nimellishalkaisijan muunnos, automaattinen virrankatkaisu ja monta lisää.
5. Pinnoitteen paksuusmittari: käytetään pinnoitteiden paksuuden mittaamiseen rauta- ja ei-rautametallisubstraattien päällä.
6. Ultraäänipaksuusmittari: Ultraäänipaksuusmittari perustuu ultraääni-yksipulssiheijastuspinnan perusperiaatteeseen paksuuden mittaamiseksi. Kun mittauksen aikana kameran lähettämä yksipulssinen ultraääniaalto saavuttaa mitatun kohteen mukaisen raaka-ainesivun, yksipulssi heijastuu takaisin kameraan. ja määritä mitattavan raaka-aineen paksuus sen mukaan, kuinka kauan ultraääniaalto etenee raaka-aineessa. Tällä perusperiaatteella voidaan mitata erilaisia raaka-aineita, joissa ultraääniaallot voivat edetä vakaalla nopeudella.
