Atomic Force Microscopy (AFM) -järjestelmän rakenne
1. Pakota havaitsemisosio:
Atomivoimamikroskopiajärjestelmässä (AFM) havaittava voima on atomien välinen van der Waalsin voima. Joten tässä järjestelmässä uloketta käytetään havaitsemaan atomien väliset voiman muutokset. Tällä mikroulokkeella on tietyt spesifikaatiot, kuten pituus, leveys, kimmokerroin ja neulan kärjen muoto, ja näiden spesifikaatioiden valinta perustuu näytteen ominaisuuksiin ja eri toimintatiloihin, ja valitaan eri tyyppisiä mittapäät.
2 Paikantunnistusosio:
Atomivoimamikroskopiajärjestelmässä (AFM), kun neulan kärjen ja näytteen välillä on vuorovaikutusta, ulokeuloke heiluu. Siksi, kun laseria säteilytetään ulokkeen päässä, myös heijastuneen valon sijainti muuttuu ulokkeen heilahtelun vuoksi, mikä johtaa offsetin muodostumiseen. Koko järjestelmässä laserpisteen asentotunnistinta käytetään poikkeaman tallentamiseen ja muuntamiseen sähköiseksi signaaliksi signaalinkäsittelyä varten SPM-ohjaimella.
3 Palautejärjestelmä:
Atomivoimamikroskooppijärjestelmässä (AFM) sen jälkeen, kun signaali on vastaanotettu laserdetektorilla, sitä käytetään takaisinkytkentäsignaalina takaisinkytkentäjärjestelmässä sisäisenä säätösignaalina, ja se saa tavallisesti pietsosähköisistä keraamisista putkista valmistetun skannerin liikkumaan. asianmukaisesti, jotta näytteen ja neulan kärjen välinen voima säilyy.
Atomic force microscopy (AFM) yhdistää edellä mainitut kolme osaa esittelemään näytteen pintaominaisuuksia: AFM-järjestelmässä pienen ulokkeen avulla havaitaan neulan kärjen ja näytteen välinen vuorovaikutus. Tämä voima saa ulokkeen heilumaan, ja sitten laseria käytetään ulokkeen pään säteilyttämiseen. Kun keinu muodostuu, heijastuneen valon sijainti muuttuu aiheuttaen poikkeaman. Tällä hetkellä laserilmaisin tallentaa tämän poikkeaman ja myös antaa palautejärjestelmälle signaalin tällä hetkellä helpottaakseen järjestelmän asianmukaista säätöä. Lopuksi näytteen pintaominaisuudet esitetään kuvan muodossa.
