Metallografisten mikroskooppien käyttö eri toimialoilla
Metallografiset mikroskoopit ovat peräisin metallografiasta. Ne ovat ammattikäyttöön tarkoitettuja instrumentteja, joita käytetään pääasiassa metallografisten rakenteiden tarkkailuun, erityisesti läpinäkymättömien esineiden, kuten metallien ja mineraalien, metallografisen mikrorakenteen tutkimiseen. Näitä läpinäkymättömiä näytteitä ei voida tarkkailla tavallisilla valomikroskoopeilla. Siksi ensisijainen ero metallografisten mikroskooppien ja tavallisten mikroskooppien välillä on, että edellinen käyttää heijastuneen valon valaistusta, kun taas jälkimmäinen luottaa läpäisevään valoon.
Metallografisissa mikroskoopeissa on erinomainen vakaus, terävä kuva, korkea resoluutio ja suuri litteä näkökenttä. Havaintoja voidaan tehdä paitsi okulaarin kautta myös reaaliaikaisina dynaamisina kuvina tietokoneen tai digitaalikameran näytöllä. Otettuja kuvia voidaan muokata, tallentaa ja tulostaa. Niitä käytetään laajalti laitteistoissa, metallografisissa osissa, IC-komponenteissa, LCD:ssä, LEDissä ja muilla aloilla.
Metallografisille mikroskoopeille on olemassa viiden tyyppisiä objektiivilinssejä: EPI-kirkaskentän fluoresenssiobjektiivit, BD-kirkas/tummakenttäobjektiivit, SLWD-superpitkän työetäisyyden objektiivit, ELWD-pitkän työskentelyetäisyyden objektiivit ja objektiivit korjausrenkailla. Laiteteollisuudessa BD-kirkas/tumma-kenttäobjektiivit voidaan valita erittäin heijastavien laitteiston osien tarkkailuun. Esimerkiksi LCD-teollisuudessa johtavia hiukkasia havainnoitaessa ja mitattaessa metallografinen mikroskooppi voidaan varustaa DIC:llä stereoskooppisempien näkymien saamiseksi. Tämä on polarisoidun valon mikroskopiatekniikka, jossa käytetään suodattimia. Se ohjaa valopolun uudelleen kahtaistaittavuusominaisuuksien mukaan. Huomaa, että polarisoitu valo toimii yleensä vain yhdistettynä DIC:iin ja sen arvo on rajallinen, kun sitä käytetään yksinään.
Kun metallografisia mikroskooppeja käytetään IC-komponenttien ja metallografisten osien pienten piirteiden mittaamiseen ja analysointiin, älykäs mittausohjelmisto Iview-DIMS voidaan ottaa käyttöön. Se tarjoaa suuren tarkkuuden ja vähentää tehokkaasti manuaalisia mittausvirheitä. Ohjelmisto on käyttäjäystävällinen ja tukee pisteiden, viivojen, kaarien, säteiden, halkaisijoiden, kulmien ja muiden geometristen mittojen mittausta ja analysointia. Se voi myös ottaa mittauskuvia ja luoda mukautettuja testiraportteja.
