Vertaileva analyysi atomivoimamikroskopian ja pyyhkäisyelektronimikroskoopin eduista ja haitoista
Atomivoimamikroskopia on pyyhkäisyanturimikroskooppi, joka on kehitetty pyyhkäisytunnelimikroskoopin perusperiaatteesta. Atomivoimamikroskopialla voidaan tutkia monia näytteitä ja saada pintatutkimukseen ja tuotannon valvontaan tai prosessien kehittämiseen sellaista tietoa, jota perinteiset pinnankarheutta mittaavat laitteet ja elektronimikroskoopit eivät pysty tarjoamaan. Joten mitkä ovat edut ja haitat näiden kahden välillä? Katsotaanpa seuraavaa:
1. Edut:
Atomivoimamikroskopialla on monia etuja pyyhkäisyelektronimikroskooppiin verrattuna. Toisin kuin elektronimikroskoopit, jotka voivat tuottaa vain kaksiulotteisia kuvia, atomivoimamikroskoopit tarjoavat todellisia kolmiulotteisia pintakarttoja. Samaan aikaan AFM ei vaadi näytteeltä mitään erikoiskäsittelyä, kuten kuparipinnoitusta tai hiiltä, jotka voivat aiheuttaa peruuttamattomia vaurioita näytteelle. Kolmanneksi elektronimikroskooppien on toimittava suurissa tyhjiöolosuhteissa, ja atomivoimamikroskoopit voivat toimia hyvin normaalipaineessa ja jopa nestemäisissä ympäristöissä. Tällä voidaan tutkia biologisia makromolekyylejä ja jopa eläviä biologisia kudoksia.
2. Haitat:
Pyyhkäisyelektronimikroskooppiin (SEM) verrattuna atomivoimamikroskoopin haittana on, että kuvausalue on liian pieni, nopeus liian hidas ja koetin vaikuttaa siihen liikaa. Atomivoimamikroskopia on uudentyyppinen atomitason korkearesoluutioinen instrumentti, joka on keksitty pyyhkäisytunnelimikroskopian jälkeen. Se voi tutkia eri materiaalien ja näytteiden fysikaalisia ominaisuuksia nanometrialueilla, mukaan lukien morfologia, ilmakehän ja nestemäisissä ympäristöissä, tai suorittaa suoraan nanomittakaavaisia mittauksia. Manipulointi; sitä on käytetty laajalti puolijohteiden, nanofunktionaalisten materiaalien, biologian, kemianteollisuuden, elintarvike-, lääketieteen ja eri nanotieteenalojen tutkimuskokeissa tieteellisissä tutkimuslaitoksissa, ja siitä on tullut nanotieteen tutkimuksen perustyökalu. . Pyyhkäisytunnelimikroskopiaan verrattuna atomivoimamikroskopialla on laajempi käyttökelpoisuus, koska sillä voidaan tarkkailla johtamattomia näytteitä. Tieteellisessä tutkimuksessa ja teollisuudessa laajalti käytetty pyyhkäisyvoimamikroskooppi perustuu atomivoimamikroskooppiin.
