Mitä etuja päällysteen paksuusmittarilla on pinnoitteen paksuusmittariin verrattuna?
Päällysteen paksuusmittari on äskettäin kehitetty uusi tuote, verrattuna edelliseen pinnoitteen paksuusmittariin, sillä on seuraavat tärkeimmät edut:
1. nopea mittausnopeus: mittausnopeus kuin muissa TT-sarjoissa 6 kertaa nopeampi;
2. korkea tarkkuus: tuote on yksinkertainen koulun jälkeen 0 tarkkuus voi saavuttaa 1-2% on tällä hetkellä markkinoilla saavuttaa A-tason tuotteita, sen tarkkuus on paljon suurempi kuin kertaa ja muut vastaavat kotimaiset . Sen tarkkuus on paljon suurempi kuin vastaavien kiinalaisten tuotteiden, kuten aikakauden, tarkkuus, ja sen tarkkuus on myös suurempi kuin tuontituotteiden, kuten EPK:n;
3. Vakaus: mitatun arvon stabiilisuus ja käytön stabiilisuus on parempia kuin tuontituotteet;
4. toiminto, tiedot, toiminta, näyttö kaikki kiinaksi;
Materiaali pinnan suojaus, koristelu muodostumista peittävä kerros, kuten pinnoitteet, pinnoitus, kastike kerros, tahna kerros, kemiallinen tuotanto elokuva, jne., asianomaisissa maissa ja kansainvälisiä standardeja kutsutaan verhous (pinnoite). Verhouksen paksuuden mittauksesta on tullut tärkeä osa jalostusteollisuutta, pintatekniikan laadun testaus, on tuote, jolla saavutetaan korkealaatuiset tarvittavat keinot. Tuotteen kansainvälistymisen, Kiinan vientihyödykkeiden ja ulkomaisten projektien toteuttamiseksi verhouksen paksuudella on selkeä vaatimus.
Päällystyksen paksuuden mittausmenetelmiä ovat pääasiassa: kiilaleikkausmenetelmä, valokatkaisumenetelmä, elektrolyysimenetelmä, paksuuseron mittausmenetelmä, punnitusmenetelmä, röntgenfluoresenssimenetelmä, -säteen takaisinsirontamenetelmä, kapasitanssimenetelmä, magneettimittausmenetelmä ja pyörrevirtamittaus menetelmä. Näistä menetelmistä viisi ensimmäistä ovat häviöllisiä, hankalia ja hitaita mittausmenetelmiä, jotka soveltuvat enimmäkseen näytteenottotarkastukseen.
Röntgen- ja -sädemenetelmät ovat kosketuksetonta ainetta rikkomattomia mittauksia, mutta laitteet ovat monimutkaisia ja kalliita ja mittausalue pieni. Radioaktiivisen lähteen vuoksi käyttäjän on noudatettava säteilysuojelunormeja. röntgenmenetelmällä voidaan mitata erittäin ohut pinnoitus, kaksoispinnoitus, seospinnoitus. -ray-menetelmä soveltuu pinnoituksen ja substraatin atomiluvun yli 3 mittaukseen. Kapasitanssimenetelmää käytetään vain ohuiden johtavien eristyspäällysteiden paksuusmittauksiin.
