Yleistyökalumikroskoopin yleiset mittausmenetelmät
1. Veitsen terämenetelmä ja aksiaalinen leikkausmenetelmä:
Leikkurin suumenetelmä ja aksiaalinen leikkausmenetelmä on eräänlainen optinen ja mekaaninen synteesimenetelmä, joka mittaa pääasiassa langan aksiaalista leikkauspintaa, tätä menetelmää voidaan käyttää myös lieriömäisten, kartiomaisten ja litteiden näytteiden mittaamiseen, koska säätövirhe on hyvin pieni eikä ole alttiina ulkoisille vaikutuksille. Esimerkiksi reunaa ei ole kiillotettu, viiste kansi ja niin edelleen. Tämän mittausmenetelmän ehtona on, että näytteen mittauspinta on tasainen ja mittausveistä pidetään näytettä vasten käsin, joka on kosketuksessa näytettä mittaustasolla. Pyöreillä kappaleilla tämä mittaustaso on kiertoakselin tangentti, ja leikkurin reunan suuntainen ohut viiva osoittaa testikappaleen aksiaalisen leikkauksen. Hieno viiva on kohdistettu kulman mittausokulaarin viitemerkin kanssa. Kulumattoman uurteen reuna on kosketuksessa kohdistusakseliin hiusristikon kautta näkökentässä, eikä etäisyyttä hienosta viivasta uurteen reunaan tarvitse ottaa huomioon mittauksessa; vain kun mittaus tehdään kuluneella uurrella, uurteen virhe on vähennettävä mitatusta arvosta. Tässä on huomioitava: pöly ja nestejäämät tarkastuspinnalla, kun uurteen asentoa tarkistetaan valovälin mukaan, nestejäämät aiheuttavat virheitä. Pehmuste ja instrumentti ** korkeus on yhteensopiva, ei voida säätää väärin, puhdistettava ennen käyttöä.
2, varjomenetelmä:
Varjostusmenetelmä on puhtaasti optinen, sillä se voi nopeasti säätää instrumenttia kohdistaakseen näytteen ääriviivat ja vertaillakseen muotoa. Tämä mittausmenetelmä edellyttää, että näyte sijoitetaan alhaalta ylöspäin suuntautuvalle valoradalle ja kohdistusmikroskoopin vapaalle alueelle, jotta näytteen varjokuva näkyy. Pyöreän työkappaleen kuva on aksiaalitason ääriviivojen varjo, kun taas litteän näytteen varjokuva määräytyy sen reunojen perusteella. Mittaus tehdään asettamalla pyörivä okulaari ja kulmikas mittausokulaari, jossa on varjoa sivuava viiltoviiva. Kun verrataan koekappaleen muotoa itse piirrettyyn kuvioon, voit käyttää projektiolaitetta ja käyttää kiikaria.
3, heijastusmenetelmä:
Heijastava menetelmä on myös optinen kosketusmenetelmä, heijastavalle menetelmälle on ominaista reunojen ja merkintöjen mittaus, kuten: piirustus, näyterei'ityssilmä jne. Tätä menetelmää voidaan käyttää myös kaiverretun viivagrafiikan okulaarin kiertämiseen muodon vertaamiseksi . Mittaustaso määritetään mikroskoopin selkeästä tasosta. Tätä mittausmenetelmää käytetään pääasiassa tasaisille näytteille. Piirustus- ja näytelävistyssilmän mittaus kulmamittausokulaarilla, reiän reunan mittaaminen kaksoiskuvaokulaarilla, vertaa okulaarin muotoa pyörivään okulaariin.
4, Mikroskooppinen vipumenetelmä
Mikrometristä vipumenetelmää ei voida käyttää optisesti kohdistettua mittauspinnan mittausta, esimerkiksi reikiä, erilaisia kaarevia pintoja ja kierteisiä pintoja, joissa kiinnitetään erityistä huomiota kosketus- tai kosketuspintojen suhteelliseen suuntaan, kun mittapään halkaisija tulee myös sisällyttää mittaustuloksiin. Erikoismittauksia varten on suositeltavaa valmistaa sopivat kosketangot. Tietyn halkaisijan omaavia pallomaisia mittapäitä käytetään vierintäkäyrien tarkastamiseen ja teräviä mittapäitä spiraalipintojen tarkistamiseen tietyn mittauspinnan sisällä. Veitsenteräisiä mittapäitä käytetään tangenttipintojen ja avaruuskäyrien projektioiden mittaamiseen vain kahdella akselilla.
