Useita konfokaalisen optisen mikroskopian ominaisuuksia
Korkea kontrasti, korkea resoluutio
Perinteisessä optisessa mikroskoopissa häiriöitä esiintyy epätarkan osan heijastuneen valon vuoksi, joka on päällekkäin polttopisteen kuvausosan kanssa, mikä johtaa kuvan kontrastin heikkenemiseen. Sitä vastoin konfokaalisessa optisessa järjestelmässä hajavalo polttopisteen ulkopuolella ja objektiivin sisällä eliminoituu lähes kokonaan, mikä johtaa erittäin suuren kontrastin omaaviin kuviin. Lisäksi mikroskoopin erotuskyky paranee, koska valo kulkee objektiivin läpi kahdesti ja terävöittää pistekuvaa.
Optinen lokalisointitoiminto
Konfokaalissa optisessa järjestelmässä heijastunut valo suojataan mikroaukolla muussa kuin polttopisteessä. Siksi kolmiulotteista näytettä havainnoitaessa kuva muodostuu ikään kuin näyte olisi viipaloitu polttopisteen kanssa, ja tätä vaikutusta kutsutaan optiseksi lokalisaatioksi, joka on yksi konfokaalisen optisen järjestelmän ominaisuuksista.
Focus shift -muistitoiminto
Heijastunut valo polttopisteen ulkopuolella estyy mikrovialla, joten konfokaalisen optisen järjestelmän luoman kuvan kaikkien pisteiden voidaan katsoa osuvan yhteen polttopisteen kanssa. Siirtämällä stereonäytettä Z-akselin (optisen akselin) suuntaan ja keräämällä kuvat muistiin saadaan kuva, jossa kaikki näytteen pisteet osuvat yhteen polttopisteen kanssa. Toimintoa, joka syventää tarkennuksen syvyyttä rajattomasti tällä tavalla, kutsutaan liikkuvan muistin funktioksi.
Pinnan muodon mittaustoiminto
Lisäämällä pinnankorkeuden tallennuspiiri tarkennuksen siirtotoimintoon, näytteen pinnan muoto voidaan mitata kosketuksetta. Tällä toiminnolla on mahdollista tallentaa kunkin pikselin maksimiluminanssiarvon Z-akselin koordinaatit ja saada tietoa näytteen pinnan muodosta näiden tietojen perusteella.
Erittäin tarkka mikroulottuvuuden mittaustoiminto
Valon vastaanottoyksikössä käytetään 1D CCD -kuvaanturia, joka mahdollistaa erittäin tarkan mittauksen ilman, että skannerin skannauskallistus vaikuttaa siihen. Lisäksi tarkennuksen siirtomuistitoiminto säädettävällä tarkennussyvyydellä (syvennyksellä) mahdollistaa tarkennuksen siirrosta aiheutuvien mittausvirheiden eliminoimisen.
