Optisen mikroskoopin (OM) analyysi
Optisen mikroskoopin kuvantamisperiaate on käyttää näkyvää valoa näytteen pinnan säteilyttämiseen, aiheuttaen paikallisen sironnan tai heijastuksen muodostamaan erilaisia kontrastia. Kuitenkin, koska näkyvän valon aallonpituus on yhtä korkea kuin {{0}} angstroms, se on luonnollisesti pahin resoluution (tai syrjinnän, resoluution, viitaten lähimmän etäisyyden välillä kahden ratkaistavaan pisteeseen). Normaalissa toiminnassa johtuen vain 0. 2 mm: n visuaalisen syrjinnänopeudesta, kun optisen mikroskoopin optimaalinen resoluutio on vain 0,2 um, teoreettinen maksimi -suurennus on vain 1000 x, mikä on rajoitettu. Näkymäkenttä on kuitenkin todella suurin eri kuvantamisjärjestelmissä, mikä osoittaa, että optinen mikroskoopin havainto voi silti tarjota monia alustavia rakennetietoja.
Konetyyppi
Analysoima
Optisten mikroskooppien suurennus ja resoluutio, vaikka ne eivät pysty vastaamaan monien materiaalien pintahavaintojen tarpeita, käytetään edelleen laajasti erilaisissa sovelluksissa, kuten:
Komponenttien poikkileikkausrakenteen havaitseminen;
Tasomaisen viivästysrakenteen analysointi ja havaitseminen;
Saostumisen vapaan vyöhykkeen havaitseminen saostumille;
Differentiaalijohdotuksen ja syövytettyjen kolmien havaitseminen;
Hapetustutkimus paransi pinoamisvirheitä (OSF).
