Laseretäisyysanturin luokitus
Laseretäisyysanturitekniikka jaetaan absoluuttisen etäisyyden mittausmenetelmään ja mikrosiirtymän mittausmenetelmään mittausalueen mukaan. Etäisyysmenetelmän mukaan jaoteltu absoluuttisen etäisyyden mittausmenetelmä sisältää pääasiassa pulssilaserin etäisyyden ja vaihelasermittauksen, ja mikrosiirtymän mittaukseen kuuluu pääasiassa kolmiomittauslasermittaus ja interferometrinen laseretäisyysmittaus.
Pulssilaserin etäisyysanturin periaate on: pulssilaser lähettää pulssilaserin erittäin lyhyellä kestolla ja mitattavan matkan ylitettyään se osuu mitattavaan kohteeseen ja osa energiasta heijastuu takaisin. . Kaiku palaa etäisyysmittariin ja vastaanottaa sen fotodetektorilla. Pääaaltosignaalin ja kaikusignaalin välisen aikavälin mukaan, eli laserpulssin kulkiessa edestakaisin laserista mitattavaan kohteeseen, voidaan laskea etäisyys mitattavaan kohteeseen.
Vaihelasermittausanturin periaate on: moduloida emittoidun laservalon valon intensiteettiä ja käyttää moduloidun signaalin vaihemuutosta laseravaruuden edetessä. Moduloidun aallon aallonpituuden mukaan lasketaan vaiheviiveen edustama etäisyys. Toisin sanoen käytetään epäsuoraa vaiheviiveen mittausmenetelmää sen sijaan, että mitataan suoraan laserin edestakaisen matkan etäisyysmittauksen toteuttamiseen tarvittavaa aikaa. Tämän menetelmän tarkkuus voi saavuttaa millimetrin tason.
Kolmiomittauslaserin etäisyysanturi on laserin lähettämä valo, joka osuu mitatun kohteen pintaan sen jälkeen, kun se on fokusoitu konvergoivan linssin avulla, ja vastaanottava linssi vastaanottaa sironneen valon tulevasta valopisteestä ja kuvaa sen herkälle valolle. valosähköisen asennontunnistimen pinta . Kun kohde liikkuu, kohteen siirtämä suhteellinen etäisyys lasketaan valopisteen siirtymän perusteella kuvaustasolla. Kolmiomittauslaser-etäisyyden resoluutio on erittäin korkea, mikä voi olla mikrometrien luokkaa.
Interferometrinen laseretäisyysanturi liikuttaa mitattua kohdetta ja mittaa koherenssia ja suorittaa etäisyyden lisäyksen mittauksen laskennan jälkeen. Siksi interferometrisen mittauksen herkkyys on erittäin korkea ja voi saavuttaa nanometritason.
