Johdanto lähetyselektronimikroskoopien luokitteluun
1. Suuri siirtoelektronimikroskooppi:
Suuri siirtoelektronimikroskopia (tavanomainen TEM) käyttää yleensä {{0}} kv elektronisäteen kiihtyvyysjännitettä, eri malleilla, jotka vastaavat erilaisia elektronisäteen kiihtyvyysjännitteitä. Sen resoluutio liittyy elektronisäteen kiihtyvyysjännitteeseen ja voi saavuttaa 0. 2-0. 1Nm. Huippuluokan mallit voivat saavuttaa atomitason resoluutiota.
2. Matalan jännitteen lähetyselektronimikroskooppi:
Pienessä jännitteen pienen läpäisyelektronimikroskopian (LVEM) käytetty elektronisäteen kiihtyvyysjännite (5KV) on paljon pienempi kuin suurella läpäisyelektronimikroskopialla. Pienempi kiihtyvyysjännite parantaa elektronisäteen ja näytteen välistä vuorovaikutuslujuutta parantaen siten kuvan kontrastia ja kontrastia, erityisesti sopivia näytteille, kuten polymeereille ja organismeille; Samaan aikaan matalapaineinen siirtoelektronimikroskopia aiheuttaa näytteen minimaalisia vaurioita.
Resoluutio on pienempi kuin suurten elektronimikroskooppien, 1-2 nm. Matalan jännitteen käytön vuoksi läpäisyelektronimikroskopia, skannauselektronimikroskopia ja skannauslähetyselektronimikroskopia voidaan integroida yhteen laitteeseen.
3. jäädytetty siirtoelektronimikroskooppi:
Kryo -mikroskopiaan sisältyy tyypillisesti näytteen jäätymislaitteiden lisääminen säännölliseen siirtoelektronimikroskooppiin, näytteen jäähdyttäminen nestemäiseen typen lämpötilaan (77K) ja havaitsemaan lämpötilaherkkiä näytteitä, kuten proteiineja ja biologisia leikkeitä. Näytteen jäädyttämällä näytteen elektronisäteen aiheuttamat vauriot voidaan vähentää, näytteen muodonmuutos voidaan minimoida ja realistisempi näytteen morfologia voidaan saada.
