Kuinka testata integroituja piirejä käyttämällä vain yleismittaria
Toimittajan huomautus: Vaikka integroitujen piirien vaihto on hyvä, purkaminen on loppujen lopuksi hankalampaa. Siksi on tarpeen arvioida tarkasti, onko integroitu piiri todella vaurioitunut, ja vaurion aste ennen purkamista, ja vältettävä sokeaa purkamista. Tässä artikkelissa esitellään menetelmiä ja varotoimia integroitujen piirien piirin ulkopuolisten ja sisäisten piirien havaitsemiseksi käyttämällä vain yleismittaria tunnistustyökaluna. Tässä artikkelissa kuvatut neljä tiellä havaitsemismenetelmää (DC-resistanssin, jännitteen, vaihtojännitteen ja kokonaisvirran mittaus) ovat käytännöllisiä ja yleisesti käytettyjä tunnistusmenetelmiä amatöörihuollossa. Täällä toivon myös, että voit tarjota muita käytännön (integroidut piirit ja komponentit) syrjinnän testauskokemusta.
1. Ei tiellä havaitsemista
Tämä menetelmä suoritetaan, kun IC:tä ei ole juotettu piiriin. Yleismittarilla voidaan yleensä mitata maadoitusnastoja vastaavien nastojen väliset etenemis- ja vastaresistanssiarvot ja verrata niitä koskemattomaan mikropiiriin.
2. Tiellä tunnistus
Tämä on tunnistusmenetelmä, jolla havaitaan DC-resistanssi, AC- ja DC-jännite maahan sekä piirissä olevan IC-nastan (piirin IC) kokonaistyövirta yleismittarin kautta. Tämä menetelmä voittaa korvaavan IC:n vaativan vaihtotestimenetelmän rajoitukset ja IC:n purkamisongelmat, ja se on yleisin ja käytännöllisin menetelmä IC:n testaamiseen.
1. On-circuit DC resistanssi tunnistusmenetelmä
Tämä on menetelmä yleismittarin ohmimittarin avulla mittaamaan IC-nastojen ja oheiskomponenttien myötä- ja taaksepäin DC-resistanssiarvot suoraan piirilevyllä ja verrata niitä normaaleihin tietoihin vikojen etsimiseksi ja määrittämiseksi. Kun mittaat, kiinnitä huomiota seuraaviin kolmeen seikkaan:
(1) Irrota virtalähde ennen mittausta, jotta mittari ja komponentit eivät vaurioidu testin aikana.
(2) Yleismittarin sähköesteen sisäinen jännite ei saa olla suurempi kuin 6 V ja alue on mieluiten R×100 tai R×1k.
(3) Kun mittaat IC-nastaparametreja, kiinnitä huomiota mittausolosuhteisiin, kuten testattavaan malliin, potentiometrin liukuvarren asentoon suhteessa IC:hen jne. ja huomioi myös oheispiirin komponenttien laatu. .
2. DC-käyttöjännitteen mittausmenetelmä
Tämä on menetelmä DC-virtalähteen jännitteen ja oheiskomponenttien käyttöjännitteen mittaamiseksi yleismittarin tasajännitelohkolla virran ollessa päällä; havaitaan IC:n jokaisen nastan tasajännitteen arvo maahan ja verrataan sitä normaaliarvoon, mikä tiivistää vikaalueen. Paikanna vaurioituneet osat. Kiinnitä huomiota seuraaviin kahdeksaan kohtaan mittaaessasi:
(1) Yleismittarilla on oltava riittävän suuri sisäinen vastus, vähintään 10 kertaa suurempi kuin testattavan piirin vastus, jotta vältytään suurilta mittausvirheiltä.
(2) Yleensä käännä potentiometrit keskiasentoon. Jos kyseessä on televisio, signaalilähteen tulee käyttää tavallista väripalkkisignaaligeneraattoria.
(3) Testikynälle tai mittapäälle on ryhdyttävä liukastumisenestotoimenpiteisiin. IC vaurioituu helposti hetkellisen oikosulun vuoksi. Voit estää testikynän liukumisen seuraavilla tavoilla: ota pala polkupyörän venttiilin ydintä ja aseta se testikynän kärkeen ja kasvata testikynän kärkeä noin 0,5 mm. , se ei aiheuta oikosulkua, vaikka se osuisi viereiseen pisteeseen.
(4) Kun nastan mitattu jännite on ristiriidassa normaaliarvon kanssa, IC:n laatu on arvioitava analysoimalla, onko nastan jännitteellä merkittävää vaikutusta IC:n normaaliin toimintaan ja vastaaviin muutoksiin muiden nastojen jännitteet.
(5) Oheiskomponentit vaikuttavat IC-nastan jännitteeseen. Kun tapahtuu vuoto, oikosulku, katkos tai oheiskomponenttien arvon muutos tai oheispiiri on kytketty muuttuvavastuksen omaavaan potentiometriin, potentiometrin liukuvarren asento vaihtelee, mikä aiheuttaa nastan jännitteen muuttumisen.
(6) Jos IC:n jokaisen nastan jännite on normaali, IC:n katsotaan yleensä olevan normaali; jos IC:n joidenkin nastojen jännite on epänormaali, aloita suurimmasta poikkeamasta normaaliarvosta ja tarkista, ovatko oheiskomponentit viallisia. Jos vikaa ei ole, IC on todennäköisesti vaurioitunut. .
(7) Dynaamisessa vastaanottolaitteessa, kuten televisiossa, IC:n jokaisen nastan jännite on erilainen riippumatta siitä, onko signaalia vai ei. Jos havaitaan, että nastan jännitteen ei pitäisi muuttua, vaan muuttuu suuresti, eikä signaalin koon ja säädettävien komponenttien eri asennon mukaan muuttuva jännite muutu, voidaan todeta, että IC on vaurioitunut.
(8) Laitteissa, joissa on useita toimintatiloja, kuten videonauhurit, eri toimintatiloissa, IC:n kunkin nastan jännite on myös erilainen.
3. AC käyttöjännitteen mittausmenetelmä
IC:n AC-signaalin muutoksen ymmärtämiseksi voidaan käyttää dB-liittimellä varustettua yleismittaria mittaamaan likimääräisesti IC:n AC-työjännitettä. Kun testaat, aseta yleismittari AC-jännitelohkoon ja aseta positiivinen mittausjohto dB-liittimeen; yleismittarissa, jossa ei ole dB-liitintä, 0.1-0.5 μF DC-estokondensaattori on kytkettävä sarjaan positiivisen testijohdon kanssa. Tämä menetelmä sopii IC:ille, joilla on suhteellisen alhainen toimintataajuus, kuten televisioiden videovahvistusasteet, kenttäpyyhkäisypiirit jne. Koska näiden piirien luonnolliset taajuudet ja aaltomuodot ovat erilaisia, mitatut tiedot ovat likimääräisiä ja niitä voidaan käyttää vain viite.
4. kokonaisvirran mittaus
Tämä menetelmä on menetelmä sen arvioimiseksi, onko IC hyvä vai huono, ilmaisemalla IC-virtalähdelinjan kokonaisvirran. Koska useimmat IC:t on kytketty suoraan, kun IC on vaurioitunut (kuten PN-liitoksen rikkoutuminen tai avoin piiri), jälkimmäinen vaihe kyllästyy ja katkeaa, ja kokonaisvirta muuttuu. Siksi IC:n laatu voidaan arvioida mittaamalla kokonaisvirta. On myös mahdollista mitata jännitehäviö tehotien vastusten yli ja käyttää Ohmin lakia laskemaan kokonaisvirran arvo.
Edellä mainituilla tunnistusmenetelmillä on omat etunsa ja haittansa. Käytännön sovelluksissa on parasta yhdistää erilaisia menetelmiä ja käyttää niitä joustavasti.
