Kuinka paljon tiedät metallografisissa analysaattoreissa käytetyistä mikroskoopin termeistä?
Numeerinen aukko
Numeerinen aukko on objektiivin linssin ja metallografisen mikroskoopin kondensaattorilinssin tärkein tekninen parametri. Numeerinen aukko on lyhennetty NA:ksi, joka on tärkeä symboli näiden kahden suorituskyvyn arvioinnissa (erityisesti objektiivin linssin osalta). Sen numeerisen arvon koko on merkitty objektiivin ja kondensaattorilinssin koteloon.
Numeerinen aukko (NA) on objektiivin etulinssin ja tarkastettavan kohteen välisen aineen taitekertoimen (n) ja aukkokulman puolikkaan sinin (u) tulo. Kaava on seuraava: NA=nsinu/2
resoluutio
Metallografisen mikroskoopin resoluutiolla tarkoitetaan kahden objektipisteen välistä vähimmäisetäisyyttä, joka mikroskoopilla voidaan selvästi erottaa, eli erotteluasteeksi. Sen laskentakaava on σ=λ/NA
missä σ on pienin resoluutioetäisyys; λ on valon aallonpituus; NA on objektiivin numeerinen aukko. Näkyvän objektiivin resoluution määrää kaksi tekijää: objektiivin NA-arvo ja valonlähteen aallonpituus. Mitä suurempi NA-arvo on, sitä lyhyempi on valaistusvalon aallonpituus ja mitä pienempi σ-arvo, sitä korkeampi resoluutio.
Suurennus ja tehokas suurennus
Objektiivilinssin ja okulaarin kahdesta suurennuksesta johtuen mikroskoopin kokonaissuurennuksen Γ tulisi olla objektiivin linssin suurennuksen ja okulaarin suurennuksen Γ1 tulos: Γ= Γ1
Ilmeisesti mikroskoopilla voi olla suurennuslasiin verrattuna paljon suurempi suurennus, ja mikroskoopin suurennusta voidaan helposti muuttaa vaihtamalla objektiivi ja okulaari eri suurennoksilla.
tarkennuksen syvyys
Tarkennuksen syvyys on tarkennuksen syvyyden lyhenne, eli mikroskooppia käytettäessä tarkennus on tiettyyn kohteeseen, ei ainoastaan tämän pisteen tason kaikki pisteet näkyvät selvästi, vaan myös tietyn paksuuden rajoissa yläpuolella. ja tason alapuolella. Selvyyden vuoksi tämän selkeän osan paksuus on tarkennuksen syvyys. Tämä on erityisen tärkeää videomikroskopiassa.
Kentän halkaisija
Mikroskoopilla tarkasteltaessa näkyvää kirkasta pyöreää aluetta kutsutaan näkökentällä, ja sen koon määrää okulaarin kenttäkalvo.
Näkökentän halkaisijaa kutsutaan myös näkökentän leveydeksi, joka viittaa tarkasteltavan kohteen todelliseen kantamaan, joka mahtuu mikroskoopilla näkyvään pyöreään näkökenttään. Mitä suurempi näkökentän halkaisija on, sitä helpompi se on havaita.
huono kattavuus
Mikroskoopin optiseen järjestelmään kuuluu myös peitinlasi. Peitelasin epätyypillisestä paksuudesta johtuen valon optinen polku päällyslasista ilmaan tulleen muuttuu, mikä johtaa vaihe-eroon, joka on huono peitto. Huono peitto vaikuttaa metallografisen mikroskoopin äänenlaatuun.
työetäisyys
Työetäisyyttä kutsutaan myös kohdeetäisyydeksi, jolla tarkoitetaan etäisyyttä objektiivin etulinssin pinnasta tarkastettavaan kohteeseen. Mikroskoopin tarkastuksen aikana tarkastettavan kohteen tulee olla 1-2 kertaa objektiivin polttoväli. Siksi se ja polttoväli ovat kaksi käsitettä. Se, mitä yleensä kutsutaan tarkentamiseksi, on itse asiassa metallografisen mikroskoopin säätötyöetäisyys.
