Laitteisto Laseretäisyysmittarin suunnittelu
Laseretäisyysmittari koostuu pääohjauslevystä, laservastaanottokortista ja näppäimistöstä. Pääohjauskortin MCU on HT32F52352, joka vastaa lasersäteilyn ja -vastaanoton ohjauksesta ja laskee etäisyysmittarin ja kohteen välisen etäisyyden. Laservastaanottokortti on pääasiallisesti vastuussa laserista. Vastaanottaa ja vahvistaa kaikusignaalia ja lähettää vahvistetun signaalin takaisin pääohjausyksikköön.
Laseretäisyysmittarin pääohjauskortti voidaan jakaa pääohjaus-MCU-piiriin, tehonsäätöpiiriin, kiihtyvyysanturipiiriin, APD-suurjännitebias-piiriin, värähtelysignaalin kytkentäpiiriin ja lasermodulaatiopäästöpiiriin sen toimintojen mukaan; pääohjaus-MCU-piiri sisältää edellä mainitut HT32F52352 ja oheislaitteiden peruspiirit; tehonohjauspiiri sisältää USB-virtalähteen, akun latauksen hallinnan, sirun virtalähteen jännitteen säätelyn jne. ja virtalähteeseen liittyvän ohjauksen; kiihtyvyysanturipiirin kautta voidaan saada tuotteen nykyinen asento ja kulma voidaan laskea suorittamaan enemmän laskelmia eri tiloissa, kuten ensisijainen Pythagoras, sekundaarinen Pythagoraan, pystymittaus, vaakasuuntainen mittaus jne.; APD:n suurjännitebias-piiri vastaa laservastaanottoon tarvittavan jännitteen tuottamisesta, ja laserkaikuvastaanoton herkkyyttä voidaan säätää ohjaamalla jännitettä; värähtelevän signaalin kytkentäpiiri on Kun laser säteilee, korkeataajuinen signaali asetetaan päällekkäin, ja kun laser vastaanottaa kaiun, käytetään taajuutta, joka kytkeytyy kaikusignaalin kanssa, ja kaikusignaalin vaihe saadaan erotaajuuden vaihemittaus; lasermodulaatiopiiriä käytetään lasersäteilyn säätämiseen. Virranhallinta.
Laseretäisyysmittari ottaa käyttöön vaihemittausmenetelmän, joten käytetään kahta laserlähetintä (sisäinen ja ulompi optinen reitti), ja laserin kaikusignaali vastaanottaa sama vastaanotin, ja kahden sisäisen ja ulomman lasersignaalin vaihe-ero voidaan laskea. Etäisyys etäisyysmittarin ja kohteen välillä, kun etäisyysmittarin ja kohteen välinen etäisyys on lyhyt, sisäisen ja ulomman optisen polun välinen vaihe-ero on pieni, päinvastoin, jos kohde on kaukana, vaihe-ero sisäiset ja ulkoiset optiset polut ovat pienempiä. lisääntyy. Vaihelaskennassa on käytettävä nopeaa Fourier-muunnosta (FFT) ja useita eri taajuuksia mittaamaan testikohde samalla etäisyydellä, jolloin tarkka etäisyys voidaan saada.
