Erot ortogonaalisten ja käänteisten metallurgisten mikroskooppien soveltamisessa
Ero eteenpäin suunnatun ja käänteisen välillä on yksinkertaisesti se, että eteenpäin suunnattu näyte sijoitetaan alapuolelle ja käänteinen näyte sijoitetaan yläpuolelle. Objektiivin linssi asetetaan alaspäin etuasentoon ja ylöspäin ylösalaisin.
Käänteinen metallografinen mikroskooppi, koska näytehavainnointi kuvapuoli alaspäin pöydän pinnan kanssa limittyy, havaintoobjekti sijaitsee pöydän alla, ylöspäin suuntautuva havainto, tähän havainnointimuotoon ei sovelleta näytteen korkeuden rajoituksia, kunhan Valmistettaessa näytteitä, niin kauan kuin havaintopinta tasainen, joten tehtaan laboratoriot, tieteelliset tutkimuslaitokset ja korkeakoulut ja yliopistot opettavat yhteistä valintaa. Käänteisen metallografisen mikroskoopin pohjan tukipinta-ala on suurempi, matalampi painopiste, vakaa ja luotettava, okulaarit ja tukipinta kallistettu 45 astetta, mukava tarkkailu.
Ortogonaalisella metallografisella mikroskoopilla on samat perustoiminnot kuin käänteisellä metallografisella mikroskoopilla, lisäksi 20-30 mm:n metallinäytteiden korkeus analysointia ja tunnistamista varten, koska se vastaa ihmisten päivittäisiä tottumuksia, joten sitä käytetään laajemmin läpinäkyvässä , puoliläpinäkyviä tai läpinäkymättömiä aineita. Ortogonaalisella metallografisella mikroskoopilla on havainnoinnin aikana positiivinen kuva, mikä tuo suurta mukavuutta käyttäjän havainnointiin ja tunnistamiseen. 20-30mm korkeiden metallinäytteiden analysoinnin ja tunnistamisen lisäksi sillä voidaan tarkkailla yli 3 mikronia suurempia ja alle 20 mikronia pienempiä kohteita, kuten metallin pinnalla olevia rakennetta ja jälkiä. keramiikka, elektroniset sirut, painetut piirit, LCD-substraatit, ohuet kalvot, kuidut, rakeiset esineet, pinnoitteet ja muut materiaalit erinomaisilla kuvantamistuloksilla.
