Materiaalien joidenkin ominaisuuksien analysointi metallografisella mikroskoopilla
1. Materiaalin mikrorakenteen monimuotoinen luonne: atomi- ja molekyylitasot, kidehuuritasot, kuten dislokaatiot, rakeiset mikrorakenteet, mikroskooppiset mikrorakenteet, makroskooppiset mikrorakenteet jne.;
2. Materiaalimikroskoopien epätasainen mikrorakenne: todellisilla mikrorakenteilla on usein geometrinen morfologia, kemiallinen koostumus ja mikroskooppiset ominaisuudet, kuten mikrohardisuus ja paikallinen sähkökemiallinen aste;
3. Materiaalimikrorakenteen suuntaus, mukaan lukien viljamorfologian anisotropia, matalan suurennusrakenteen suuntaus, kristallografinen edullinen suuntaus ja materiaalien makroskooppisten ominaisuuksien suuntaus, tulisi analysoida ja karakterisoida erikseen;
4. Materiaalimikrorakenteen vaihtelu: Kemiallisen koostumuksen, faasinsiirtymän ja kudoksen kehityksen muutokset, jotka johtuvat ulkoisten tekijöiden ja ajan aiheuttamista, voivat johtaa muutoksiin materiaalimikrorakenteessa. Siksi staattisen mikrorakenteen morfologian laadullisen ja kvantitatiivisen analyysin lisäksi olisi kiinnitettävä huomiota siihen, onko tarpeen tutkia kiinteän tilan vaihesiirtoprosessia, mikrorakenteen kehityskinetiikkaa ja evoluutiomekanismia;
5. Materiaalien mikrorakenteessa olevat fraktaaliominaisuudet ja tietyissä metallografisissa havainnoissa voi olla resoluutio riippuvaisia ominaisuuksia, jotka voivat johtaa kvantitatiivisten analyysien tulosten voimakkaaseen riippuvuuteen kuvan resoluutiosta. Tämä on erityisen tärkeää, kun analysoidaan kvantitatiivisesti materiaalimurtuen pintojen pintamorfologiaa sekä mikrorakenteiden digitaalisten kuvatiedostojen tallentamista ja käsittelyä;
6. Materiaalimikrorakenteen ei -kvantitatiivisen tutkimuksen rajoitukset: Vaikka mikrorakenteen laadullinen tutkimus voi silti vastata materiaalitekniikan tarpeisiin, materiaalitieteellinen analyysi vaatii aina kvantitatiivisen määrittämisen mikrorakenteen geometrisen morfologian ja saatujen kvantitatiivisten analyysien tulosten virheanalyysin virheanalyysiin.
